自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110753590.5

申请日：

2021-07-02

公开(公告)号：

CN113568780B

公开(公告)日：

2024-11-22

发明(设计)人：

林丰

申请人：

深圳TCL新技术有限公司

申请人地址：

518052 广东省深圳市南山区西丽街道中山园路1001号国际E城D4栋9楼

IPC主分类号：

G06F11/14

IPC分类号：

G06F11/36

代理机构：

深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570

代理人：

汪阮磊

法律状态：

授权

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-11-22	授权	授权

共 50 条

[1]

自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

林丰 .

中国专利 :CN113568780A ,2021-10-29

[2]

自动化测试方法及装置、存储介质、电子设备 [P].

曹偲 ;

张文 ;

胡涛 ;

施红 ;

刘金龙 .

中国专利 :CN112463605B ,2024-03-15

[3]

自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

田娜 ;

唐小宇 ;

吴文锦 ;

郭玉婷 .

中国专利 :CN115658476A ,2023-01-31

[4]

自动化测试方法及装置、存储介质、电子设备 [P].

曹偲 ;

张文 ;

胡涛 ;

施红 ;

刘金龙 .

中国专利 :CN112463605A ,2021-03-09

[5]

自动化测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

许伟 ;

古知己 .

中国专利 :CN112650681B ,2024-10-22

[6]

自动化测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

许伟 ;

古知己 .

中国专利 :CN112650681A ,2021-04-13

[7]

界面自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

顾笑宇 .

中国专利 :CN120929378A ,2025-11-11

[8]

自动化测试方法及装置、存储介质、电子设备 [P].

王成 .

中国专利 :CN107704398A ,2018-02-16

[9]

自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

王博 .

中国专利 :CN117762762A ,2024-03-26

[10]

自动化测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

赵文越 ;

阮晓玲 .

中国专利 :CN113961472A ,2022-01-21

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