一种夹紧测试机构

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202420057741.2

申请日：

2024-01-08

公开(公告)号：

CN221860516U

公开(公告)日：

2024-10-18

发明(设计)人：

卓维煌黄天鹏胡松华

申请人：

深圳赛腾昌鼎半导体电子有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市光明区凤凰街道塘尾社区南太云创谷3栋1408

IPC主分类号：

G01R1/04

IPC分类号：

G01R31/26

代理机构：

深圳灼华创睿专利代理事务所(普通合伙) 44524

代理人：

张凯丰

法律状态：

授权

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-10-18	授权	授权

共 50 条

[1]

一种移动测试机构 [P].

王贤智 .

中国专利 :CN210533608U ,2020-05-15

[2]

一种SMD元器件测试机构 [P].

冯白华 ;

贾延蝶 ;

王振波 ;

黄宏涛 .

中国专利 :CN202748422U ,2013-02-20

[3]

一种互调测试机构 [P].

蒋开雄 .

中国专利 :CN208952982U ,2019-06-07

[4]

片式半导体元器件测试机构 [P].

罗炳坤 ;

杨国宏 ;

袁毅凯 ;

单忠频 ;

覃谭飞 .

中国专利 :CN201319051Y ,2009-09-30

[5]

一种助波测试机构 [P].

蒋开雄 .

中国专利 :CN208952995U ,2019-06-07

[6]

一种半导体测试机构 [P].

芦俊 .

中国专利 :CN108072818A ,2018-05-25

[7]

一种半导体元器件测试工艺及测试机构 [P].

康茂 ;

单忠频 ;

陈伟明 ;

陈树钊 ;

黄仁发 ;

黄昌浩 ;

缪来虎 ;

薛克瑞 ;

彭宇杰 ;

郭琼生 .

中国专利 :CN115639449B ,2025-08-12

[8]

一种半导体元器件测试工艺及测试机构 [P].

康茂 ;

单忠频 ;

陈伟明 ;

陈树钊 ;

黄仁发 ;

黄昌浩 ;

缪来虎 ;

薛克瑞 ;

彭宇杰 ;

郭琼生 .

中国专利 :CN115639449A ,2023-01-24

[9]

一种电机控制自动夹紧测试机构 [P].

任春茂 ;

陈春胜 ;

罗辉 ;

王伟群 ;

黄广龙 ;

谢冬坡 .

中国专利 :CN212807593U ,2021-03-26

[10]

一种无刷电机定子夹紧测试机构 [P].

刘同 ;

刘东洋 ;

邱英明 ;

于四海 ;

谢智雄 .

中国专利 :CN223565837U ,2025-11-18

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