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基于FPGA的以太网PHY芯片功能测试系统

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202411392680.6
申请日：
2024-10-08
公开(公告)号：
CN118884190A
公开(公告)日：
2024-11-01
发明(设计)人：
彭磊 叶锦宏 张德春 苟绍予
申请人：
成都电科蓉芯科技有限公司
申请人地址：
610000 四川省成都市天府新区兴隆街道湖畔路北段715号1号楼302室
IPC主分类号：
G01R31/28
IPC分类号：
代理机构：
成都人众惠承专利代理事务所(普通合伙) 51372
代理人：
向欢欢
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2024-11-01 公开 公开
2024-12-06 授权 授权
2024-11-19 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20241008
共 50 条
[1]
基于FPGA的以太网PHY芯片功能测试系统 [P]. 
彭磊 ;
叶锦宏 ;
张德春 ;
苟绍予 .
中国专利 :CN118884190B ,2024-12-06
[2]
基于FPGA的以太网PHY芯片代理的方法 [P]. 
徐剑 ;
安玫颖 .
中国专利 :CN118474566A ,2024-08-09
[3]
基于FPGA的以太网PHY芯片代理的方法 [P]. 
徐剑 ;
安玫颖 .
中国专利 :CN118474566B ,2024-09-03
[4]
一种以太网PHY芯片的测试系统 [P]. 
杨超 ;
张金凤 ;
王国力 ;
马成英 ;
张宇亮 ;
李文周 ;
刘月晖 ;
金荣康 ;
宋秋红 .
中国专利 :CN120358179A ,2025-07-22
[5]
一种以太网PHY芯片的功能测试方法 [P]. 
杨超 ;
张金凤 ;
王国力 ;
马成英 ;
张宇亮 ;
李文周 ;
刘月晖 ;
金荣康 ;
宋秋红 .
中国专利 :CN120075105A ,2025-05-30
[6]
一种用于实现以太网PHY芯片的功能测试的测试系统 [P]. 
杨超 ;
张金凤 ;
王国力 ;
马成英 ;
张宇亮 ;
李文周 ;
刘月晖 ;
金荣康 ;
宋秋红 .
中国专利 :CN120342923A ,2025-07-18
[7]
基于ZYNQ的千兆以太网PHY芯片PTP测试方法 [P]. 
徐剑 ;
安玫颖 .
中国专利 :CN118984286B ,2025-02-07
[8]
基于ZYNQ的千兆以太网PHY芯片PTP测试方法 [P]. 
徐剑 ;
安玫颖 .
中国专利 :CN118984286A ,2024-11-19
[9]
一种以太网PHY芯片的测试方法 [P]. 
杨超 ;
张金凤 ;
王国力 ;
马成英 ;
张宇亮 ;
李文周 ;
刘月晖 ;
金荣康 ;
宋秋红 .
中国专利 :CN120075106A ,2025-05-30
[10]
以太网PHY芯片与以太网光模块耦合电路 [P]. 
熊伟 .
中国专利 :CN203661101U ,2014-06-18
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