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一种用于实现以太网PHY芯片的功能测试的测试系统

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202311610003.2
申请日：
2023-11-29
公开(公告)号：
CN120342923A
公开(公告)日：
2025-07-18
发明(设计)人：
杨超 张金凤 王国力 马成英 张宇亮 李文周 刘月晖 金荣康 宋秋红
申请人：
北京振兴计量测试研究所
申请人地址：
100074 北京市丰台区云岗北区西里1号院30号
IPC主分类号：
H04L43/50
IPC分类号：
H04L43/18
代理机构：
北京天达知识产权代理事务所有限公司 11386
代理人：
许志宏
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
辽宁省 丹东市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-08-05 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):H04L 43/50申请日:20231129
2025-07-18 公开 公开
共 50 条
[1]
一种以太网PHY芯片的测试系统 [P]. 
杨超 ;
张金凤 ;
王国力 ;
马成英 ;
张宇亮 ;
李文周 ;
刘月晖 ;
金荣康 ;
宋秋红 .
中国专利 :CN120358179A ,2025-07-22
[2]
一种以太网PHY芯片的功能测试方法 [P]. 
杨超 ;
张金凤 ;
王国力 ;
马成英 ;
张宇亮 ;
李文周 ;
刘月晖 ;
金荣康 ;
宋秋红 .
中国专利 :CN120075105A ,2025-05-30
[3]
一种以太网PHY芯片的测试方法 [P]. 
杨超 ;
张金凤 ;
王国力 ;
马成英 ;
张宇亮 ;
李文周 ;
刘月晖 ;
金荣康 ;
宋秋红 .
中国专利 :CN120075106A ,2025-05-30
[4]
基于FPGA的以太网PHY芯片功能测试系统 [P]. 
彭磊 ;
叶锦宏 ;
张德春 ;
苟绍予 .
中国专利 :CN118884190B ,2024-12-06
[5]
基于FPGA的以太网PHY芯片功能测试系统 [P]. 
彭磊 ;
叶锦宏 ;
张德春 ;
苟绍予 .
中国专利 :CN118884190A ,2024-11-01
[6]
实现以太网供电功能测试的系统、装置及方法 [P]. 
陈延超 ;
马荣波 ;
唐能 .
中国专利 :CN101793930B ,2010-08-04
[7]
一种以太网PHY收发器芯片MII端口数据测试方法 [P]. 
武新郑 ;
王建超 ;
陈诚 .
中国专利 :CN119814185A ,2025-04-11
[8]
一种以太网PHY芯片测试装置及方法 [P]. 
陈默 ;
王庆 ;
王国雄 .
中国专利 :CN119986327B ,2025-10-10
[9]
一种以太网PHY芯片测试装置及方法 [P]. 
陈默 ;
王庆 ;
王国雄 .
中国专利 :CN119986327A ,2025-05-13
[10]
一种实现以太网供电功能测试的系统、装置及方法 [P]. 
陈延超 ;
马荣波 ;
唐能 .
中国专利 :CN101782613B ,2010-07-21
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