一种元器件缺陷检测的方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411003120.7

申请日：

2024-07-25

公开(公告)号：

CN119048431A

公开(公告)日：

2024-11-29

发明(设计)人：

赵启东张文超李正义谢飞学胥贵勋毛晓峰任燕王昕

申请人：

海信集团控股股份有限公司

申请人地址：

266555 山东省青岛市经济技术开发区前湾港路218号

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06T7/62 G06V10/44 G06V10/764 G06V10/82 G06N3/0464

代理机构：

北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291

代理人：

金俊姬

法律状态：

公开

国省代码：

安徽省宣城市

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-11-29	公开	公开
2024-12-17	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20240725

共 50 条

[1]

元器件的缺陷等级检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

谢思映 ;

梅亮 ;

罗俊杰 ;

张文瑞 ;

张钊 ;

孙铮 ;

陆涛 .

中国专利 :CN119693297A ,2025-03-25

[2]

一种元器件类别检测的方法及电子设备 [P].

张文超 ;

赵启东 ;

李洁 ;

孟庆颖 ;

董秀莲 ;

刘利明 ;

薛奡 ;

王昕 .

中国专利 :CN119229166A ,2024-12-31

[3]

缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

詹佳伟 .

中国专利 :CN117830210A ,2024-04-05

[4]

元器件检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

马彩丰 .

中国专利 :CN115661115A ,2023-01-31

[5]

缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

陈路燕 ;

邹建法 ;

聂磊 .

中国专利 :CN113344862A ,2021-09-03

[6]

缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

陈路燕 ;

邹建法 ;

聂磊 .

中国专利 :CN113344862B ,2024-04-12

[7]

一种PCB元器件检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

应烨伟 ;

张涛 ;

刘大侠 .

中国专利 :CN119648638A ,2025-03-18

[8]

一种PCB元器件检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

应烨伟 ;

刘大侠 ;

靳高峰 .

中国专利 :CN119648640A ,2025-03-18

[9]

元器件的替换方法及装置、存储介质、电子设备 [P].

张定农 ;

郑凯强 ;

张世杰 .

中国专利 :CN115835498B ,2025-08-01

[10]

缺陷检测方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

刘文龙 ;

高斌斌 .

中国专利 :CN112801047B ,2021-05-14

← 1 2 3 4 5 →