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一种PCB元器件检测方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202411668766.7
申请日：
2024-11-20
公开(公告)号：
CN119648638A
公开(公告)日：
2025-03-18
发明(设计)人：
应烨伟 张涛 刘大侠
申请人：
杭州微影软件有限公司
申请人地址：
310051 浙江省杭州市滨江区西兴街道丹枫路399号2号楼B楼313室
IPC主分类号：
G06T7/00
IPC分类号：
G06T7/62 G06V10/74
代理机构：
北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413
代理人：
孟维娜;高莺然
法律状态：
公开
国省代码：
浙江省 杭州市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-03-18 公开 公开
2025-04-04 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20241120
共 50 条
[1]
一种PCB元器件检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
应烨伟 ;
刘大侠 ;
靳高峰 .
中国专利 :CN119648640A ,2025-03-18
[2]
元器件检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
马彩丰 .
中国专利 :CN115661115A ,2023-01-31
[3]
元器件检测方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
汤寅航 ;
刘琪 .
中国专利 :CN111914508A ,2020-11-10
[4]
电子元器件的温度检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
马丁立 ;
吴友鹏 ;
苏星溢 .
中国专利 :CN119245867B ,2025-09-16
[5]
电子元器件的温度检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
马丁立 ;
吴友鹏 ;
苏星溢 .
中国专利 :CN119245867A ,2025-01-03
[6]
一种元器件缺陷检测的方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
赵启东 ;
张文超 ;
李正义 ;
谢飞学 ;
胥贵勋 ;
毛晓峰 ;
任燕 ;
王昕 .
中国专利 :CN119048431A ,2024-11-29
[7]
元器件的缺陷等级检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
谢思映 ;
梅亮 ;
罗俊杰 ;
张文瑞 ;
张钊 ;
孙铮 ;
陆涛 .
中国专利 :CN119693297A ,2025-03-25
[8]
一种PCB元器件方向丝印的调整方法、电子设备及存储介质 [P]. 
王隆峰 .
中国专利 :CN119545679A ,2025-02-28
[9]
一种元器件缺失检测方法、电子设备及可读存储介质 [P]. 
尹东富 ;
张保超 ;
陈孝天 ;
于非 .
中国专利 :CN118393327A ,2024-07-26
[10]
一种元器件缺失检测方法、电子设备及可读存储介质 [P]. 
尹东富 ;
张保超 ;
陈孝天 ;
于非 .
中国专利 :CN118393327B ,2024-09-06
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