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電子ビーム測定装置および電子ビーム測定方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20230176576
申请日
:
2023-10-12
公开(公告)号
:
JP7569432B2
公开(公告)日
:
2024-10-17
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01B15/00
IPC分类号
:
G03F7/20
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
電子ビーム測定装置および電子ビーム測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7157508B2
,2022-10-20
[2]
電子ビーム測定装置および電子ビーム測定方法[ja]
[P].
YAMADA KEIZO
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
HORON KK
YAMADA KEIZO
.
日本专利
:JP2022173523A
,2022-11-18
[3]
電子ビーム位置変動測定方法、電子ビーム位置変動測定装置、電子ビーム記録装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2005121902A1
,2008-04-10
[4]
電子ビーム露光装置、電子ビーム露光方法、半導体素子製造方法、及び電子ビーム形状測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2002103765A1
,2004-10-07
[5]
ビーム電流測定装置およびこれを用いたビーム電流測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2004081966A1
,2006-06-15
[6]
荷電粒子ビーム分布測定システムおよび荷電粒子ビーム分布測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6438646B2
,2018-12-19
[7]
ビーム測定装置およびその測定方法、ビーム輸送システム[ja]
[P].
日本专利
:JP5645159B2
,2014-12-24
[8]
ビーム位置測定方法及び荷電粒子ビーム描画方法[ja]
[P].
NANAO TSUBASA
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
NUFLARE TECHNOLOGY INC
NUFLARE TECHNOLOGY INC
NANAO TSUBASA
;
IIZUKA OSAMU
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
NUFLARE TECHNOLOGY INC
NUFLARE TECHNOLOGY INC
IIZUKA OSAMU
.
日本专利
:JP2025024968A
,2025-02-21
[9]
電子装置の測定方法、測定装置および測定プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP7494753B2
,2024-06-04
[10]
電子装置および測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7089989B2
,2022-06-23
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