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一种火焰温度场及OH浓度场吸收层析成像系统及方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202411287711.1
申请日
:
2024-09-14
公开(公告)号
:
CN118817632B
公开(公告)日
:
2024-11-15
发明(设计)人
:
杨鑫宇
蔡静
常海涛
钱宝健
杨永军
申请人
:
中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
申请人地址
:
100095 北京市海淀区温泉镇环山村1066信箱
IPC主分类号
:
G01N21/33
IPC分类号
:
G01J5/00
G01J5/58
G01N21/25
F23M11/04
G06N3/08
代理机构
:
北京市隆安律师事务所 11323
代理人
:
付建军
法律状态
:
授权
国省代码
:
北京市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-11-15
授权
授权
2024-11-08
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/33申请日:20240914
2024-10-22
公开
公开
共 50 条
[1]
一种火焰温度场及OH浓度场吸收层析成像系统及方法
[P].
杨鑫宇
论文数:
0
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0
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机构:
中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
杨鑫宇
;
蔡静
论文数:
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机构:
中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
蔡静
;
常海涛
论文数:
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0
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机构:
中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
常海涛
;
钱宝健
论文数:
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0
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机构:
中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
钱宝健
;
杨永军
论文数:
0
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0
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机构:
中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
杨永军
.
中国专利
:CN118817632A
,2024-10-22
[2]
一种光场层析成像系统及火焰三维温度场重建方法
[P].
论文数:
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机构:
齐宏
;
李智豪
论文数:
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机构:
哈尔滨工业大学
哈尔滨工业大学
李智豪
;
论文数:
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机构:
任亚涛
;
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机构:
何明键
;
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机构:
高包海
.
中国专利
:CN119147101A
,2024-12-17
[3]
软场层析成像系统及软场层析成像方法
[P].
牛冉
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牛冉
;
亚历山大.S.罗斯
论文数:
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亚历山大.S.罗斯
;
布鲁斯.C.C.安穆
论文数:
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布鲁斯.C.C.安穆
;
高子仁
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高子仁
;
谭伟
论文数:
0
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谭伟
.
中国专利
:CN104068854A
,2014-10-01
[4]
一种基于双相机融合的光场层析成像系统及火焰三维温度场重建方法
[P].
李智豪
论文数:
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0
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机构:
哈尔滨工业大学
哈尔滨工业大学
李智豪
;
论文数:
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机构:
齐宏
;
论文数:
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机构:
任亚涛
;
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机构:
何明键
;
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机构:
高包海
.
中国专利
:CN119023076A
,2024-11-26
[5]
软场层析成像系统和方法
[P].
谭伟
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0
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谭伟
;
亚历山大.S.罗斯
论文数:
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0
亚历山大.S.罗斯
;
维拉.V.L.R.兰格巨
论文数:
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维拉.V.L.R.兰格巨
;
牛冉
论文数:
0
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牛冉
;
吴之林
论文数:
0
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吴之林
;
高卫华
论文数:
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0
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高卫华
.
中国专利
:CN102540276B
,2012-07-04
[6]
一种基于温度场层析成像的无损检测方法
[P].
王鹏伟
论文数:
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王鹏伟
;
赵桐
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赵桐
;
刘凯
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刘凯
;
赵常青
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赵常青
;
闫海涛
论文数:
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闫海涛
.
中国专利
:CN106546628A
,2017-03-29
[7]
一种火焰温度场测量装置及方法
[P].
蔡伟伟
论文数:
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蔡伟伟
;
刘何聪
论文数:
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刘何聪
;
彭范
论文数:
0
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彭范
.
中国专利
:CN111257497A
,2020-06-09
[8]
基于NV色心的芯片三维温度场层析成像方法与系统
[P].
王宏跃
论文数:
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
王宏跃
;
周杨阳
论文数:
0
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
周杨阳
;
唐炯
论文数:
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
唐炯
;
陈亮
论文数:
0
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
陈亮
;
陈义强
论文数:
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
陈义强
;
刘昌
论文数:
0
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
刘昌
;
陈媛
论文数:
0
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0
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
陈媛
.
中国专利
:CN120820526A
,2025-10-21
[9]
一种基于电容层析成像的聚合物熔体温度场测量方法及系统
[P].
刘桂雄
论文数:
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刘桂雄
;
凌鹏涛
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凌鹏涛
;
洪晓斌
论文数:
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洪晓斌
.
中国专利
:CN102620855B
,2012-08-01
[10]
高速高分辨宽场层析成像方法及装置
[P].
戴琼海
论文数:
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戴琼海
;
庄超玮
论文数:
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庄超玮
;
谢浩
论文数:
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引用数:
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谢浩
.
中国专利
:CN110296967A
,2019-10-01
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