反向击穿电压测试仪和测试设备

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202420625131.8
申请日
2024-03-28
公开(公告)号
CN222145157U
公开(公告)日
2024-12-10
发明(设计)人
丁盛峰 阮辉 王碧源
申请人
杭州芯云半导体集团有限公司
申请人地址
310051 浙江省杭州市滨江区浦沿街道六和路368号一幢(南)一楼F1066室
IPC主分类号
G01R31/26
IPC分类号
代理机构
北京超凡宏宇知识产权代理有限公司 11463
代理人
张文娥
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
高反压硅晶体管反向击穿电压测试仪 [P]. 
黄月华 .
中国专利 :CN203376441U ,2014-01-01
[2]
高反压硅晶体管反向击穿电压测试仪 [P]. 
黄月华 .
中国专利 :CN103412248A ,2013-11-27
[3]
能测试晶体管反向击穿电压的万用表 [P]. 
谢淑颖 .
中国专利 :CN202794279U ,2013-03-13
[4]
能测试晶体管反向击穿电压的万用表 [P]. 
许璐 ;
黄大喜 ;
庞凯 .
中国专利 :CN202735386U ,2013-02-13
[5]
一种半导体器件反向击穿电压测试系统 [P]. 
詹惠琴 ;
姚明生 ;
白雷 ;
古天祥 ;
李硕 .
中国专利 :CN103048600A ,2013-04-17
[6]
齐纳二极管与雪崩二极管的反向击穿电压测试仪 [P]. 
周宝善 ;
李博 .
中国专利 :CN213581234U ,2021-06-29
[7]
一种击穿电压测试仪 [P]. 
董志勇 .
中国专利 :CN212207564U ,2020-12-22
[8]
晶圆测试仪和测试设备 [P]. 
丁盛峰 ;
王碧源 ;
任舒沁 .
中国专利 :CN222420436U ,2025-01-28
[9]
耐电压测试仪击穿电流检定设备 [P]. 
贾红斌 ;
周秉时 ;
李岚 .
中国专利 :CN203799006U ,2014-08-27
[10]
漆包线击穿电压测试装置 [P]. 
李成灵 .
中国专利 :CN209784479U ,2019-12-13