测试座

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410731162.6

申请日：

2024-06-06

公开(公告)号：

CN119104752A

公开(公告)日：

2024-12-10

发明(设计)人：

叶柏汉孙家彬

申请人：

颖崴科技股份有限公司

申请人地址：

中国台湾高雄市

IPC主分类号：

G01R1/04

IPC分类号：

G01R1/067 G01R1/073 G01R31/26

代理机构：

北京戈程知识产权代理有限公司 11314

代理人：

程伟;王锦阳

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-12-27	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 1/04申请日:20240606
2024-12-10	公开	公开

共 50 条

[1]

测试装置及其测试座 [P].

陈文鍾 ;

黄伟瑄 ;

苏祐民 ;

陈健忠 ;

徐之傑 .

中国专利 :CN221199756U ,2024-06-21

[2]

叶柏汉 ;

孙家彬 .

中国专利 :CN220584352U ,2024-03-12

[3]

叶柏汉 ;

孙家彬 .

中国专利 :CN119104868A ,2024-12-10

[4]

孙家彬 ;

叶柏汉 ;

王渊立 ;

颜沛琦 .

中国专利 :CN119104754A ,2024-12-10

[5]

叶柏汉 ;

孙家彬 .

中国专利 :CN119104869A ,2024-12-10

[6]

王平 .

中国专利 :CN117990953A ,2024-05-07

[7]

测试座、冷却系统及测试系统 [P].

周心宇 ;

蔡瑛吉 ;

孙家彬 .

中国专利 :CN119104755A ,2024-12-10

[8]

芯片测试座 [P].

张勇文 ;

袁小云 .

中国专利 :CN213398670U ,2021-06-08

[9]

测试座（芯片测试座） [P].

李军 ;

李天雨 .

中国专利 :CN308470272S ,2024-02-13

[10]

便捷测试座及其测试方法 [P].

李煌娴 ;

廖锡略 ;

黄宇 .

中国专利 :CN113933687B ,2022-01-14

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