用于检查生产过程和/或工件特征的检查系统和相关方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202380034032.0
申请日
2023-04-12
公开(公告)号
CN119013629A
公开(公告)日
2024-11-22
发明(设计)人
C·马赛蒂 A·克雷莫尼尼 A·德仁吉斯 M·贝尔塔奇
申请人
马波斯S.P.A.公司
申请人地址
意大利本蒂沃利奥
IPC主分类号
G05B19/406
IPC分类号
G05B19/408 G05B19/4155
代理机构
上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237
代理人
顾丹丽
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
用于检查工件的尺寸和/或几何特征的系统及其相关的制造工艺 [P]. 
A·萨提尼 ;
G·格沃尼 .
中国专利 :CN107250722A ,2017-10-13
[2]
用于工件检查的系统和方法 [P]. 
边霄 ;
阿尔皮特·杰恩 ;
大卫·斯科特·迪温斯基 ;
伯纳德·帕特里克·布莱 ;
史蒂文斯·布沙尔 ;
吉恩·菲利普·乔尼勒 ;
马克·安德烈·马罗斯 ;
斯蒂芬尼·哈雷尔 ;
约翰·卡里吉亚尼斯 .
中国专利 :CN111272763A ,2020-06-12
[3]
工件导电特征检查方法及工件导电特征检查系统 [P]. 
陈永埕 .
中国专利 :CN107977953A ,2018-05-01
[4]
检查系统和检查方法 [P]. 
赤泽圭一 ;
井上靖之 ;
栗原徹 .
中国专利 :CN110383050A ,2019-10-25
[5]
激光系统、检查系统和用于检查工件结合层的方法 [P]. 
M·萨法伊 .
美国专利 :CN110829155B ,2024-03-12
[6]
用于检查容器的装置、检查系统和检查方法 [P]. 
嘠特·托尔斯泰 .
中国专利 :CN103308526B ,2013-09-18
[7]
视觉检查系统和利用该系统检查工件的方法 [P]. 
安佑正 ;
金正焕 ;
柳希昱 .
中国专利 :CN101427173A ,2009-05-06
[8]
表面检查系统和检查工件表面的方法 [P]. 
李·D·克莱门特 ;
迈克尔·E·福斯伊 .
中国专利 :CN1181135A ,1998-05-06
[9]
检查方法和检查系统 [P]. 
切明健志 ;
吉田清 ;
三浦聪纪 ;
木村爱佳 ;
水田政智 .
中国专利 :CN103175867A ,2013-06-26
[10]
检查方法和检查系统 [P]. 
秋元健司 .
中国专利 :CN115508384A ,2022-12-23