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用于检查生产过程和/或工件特征的检查系统和相关方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202380034032.0
申请日
:
2023-04-12
公开(公告)号
:
CN119013629A
公开(公告)日
:
2024-11-22
发明(设计)人
:
C·马赛蒂
A·克雷莫尼尼
A·德仁吉斯
M·贝尔塔奇
申请人
:
马波斯S.P.A.公司
申请人地址
:
意大利本蒂沃利奥
IPC主分类号
:
G05B19/406
IPC分类号
:
G05B19/408
G05B19/4155
代理机构
:
上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237
代理人
:
顾丹丽
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-04-04
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G05B 19/406申请日:20230412
2024-11-22
公开
公开
共 50 条
[1]
用于检查工件的尺寸和/或几何特征的系统及其相关的制造工艺
[P].
A·萨提尼
论文数:
0
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0
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A·萨提尼
;
G·格沃尼
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G·格沃尼
.
中国专利
:CN107250722A
,2017-10-13
[2]
用于工件检查的系统和方法
[P].
边霄
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边霄
;
阿尔皮特·杰恩
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阿尔皮特·杰恩
;
大卫·斯科特·迪温斯基
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大卫·斯科特·迪温斯基
;
伯纳德·帕特里克·布莱
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伯纳德·帕特里克·布莱
;
史蒂文斯·布沙尔
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史蒂文斯·布沙尔
;
吉恩·菲利普·乔尼勒
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吉恩·菲利普·乔尼勒
;
马克·安德烈·马罗斯
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马克·安德烈·马罗斯
;
斯蒂芬尼·哈雷尔
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斯蒂芬尼·哈雷尔
;
约翰·卡里吉亚尼斯
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约翰·卡里吉亚尼斯
.
中国专利
:CN111272763A
,2020-06-12
[3]
工件导电特征检查方法及工件导电特征检查系统
[P].
陈永埕
论文数:
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陈永埕
.
中国专利
:CN107977953A
,2018-05-01
[4]
检查系统和检查方法
[P].
赤泽圭一
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赤泽圭一
;
井上靖之
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井上靖之
;
栗原徹
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栗原徹
.
中国专利
:CN110383050A
,2019-10-25
[5]
激光系统、检查系统和用于检查工件结合层的方法
[P].
M·萨法伊
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机构:
波音公司
波音公司
M·萨法伊
.
美国专利
:CN110829155B
,2024-03-12
[6]
用于检查容器的装置、检查系统和检查方法
[P].
嘠特·托尔斯泰
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嘠特·托尔斯泰
.
中国专利
:CN103308526B
,2013-09-18
[7]
视觉检查系统和利用该系统检查工件的方法
[P].
安佑正
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安佑正
;
金正焕
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金正焕
;
柳希昱
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柳希昱
.
中国专利
:CN101427173A
,2009-05-06
[8]
表面检查系统和检查工件表面的方法
[P].
李·D·克莱门特
论文数:
0
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李·D·克莱门特
;
迈克尔·E·福斯伊
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迈克尔·E·福斯伊
.
中国专利
:CN1181135A
,1998-05-06
[9]
检查方法和检查系统
[P].
切明健志
论文数:
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切明健志
;
吉田清
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吉田清
;
三浦聪纪
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三浦聪纪
;
木村爱佳
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木村爱佳
;
水田政智
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水田政智
.
中国专利
:CN103175867A
,2013-06-26
[10]
检查方法和检查系统
[P].
秋元健司
论文数:
0
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0
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0
秋元健司
.
中国专利
:CN115508384A
,2022-12-23
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