用于工件检查的系统和方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201911220932.6

申请日：

2019-12-03

公开(公告)号：

CN111272763A

公开(公告)日：

2020-06-12

发明(设计)人：

边霄阿尔皮特·杰恩大卫·斯科特·迪温斯基伯纳德·帕特里克·布莱史蒂文斯·布沙尔吉恩·菲利普·乔尼勒马克·安德烈·马罗斯斯蒂芬尼·哈雷尔约翰·卡里吉亚尼斯

申请人：

申请人地址：

美国纽约州

IPC主分类号：

G01N2188

IPC分类号：

代理机构：

上海华诚知识产权代理有限公司 31300

代理人：

肖华

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-06-12	公开	公开
2020-07-07	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/88 申请日:20191203

共 50 条

[1]

激光系统、检查系统和用于检查工件结合层的方法 [P].

M·萨法伊 .

美国专利 :CN110829155B ,2024-03-12

[2]

视觉检查系统和利用该系统检查工件的方法 [P].

安佑正 ;

金正焕 ;

柳希昱 .

中国专利 :CN101427173A ,2009-05-06

[3]

用于密封检查的系统和方法 [P].

J·布鲁克莱梅尔 ;

M·戈德曼 ;

G·施努斯泰因 .

中国专利 :CN104685335A ,2015-06-03

[4]

用于检查和处理显微的样本的方法和检查系统 [P].

福尔克·施劳德拉夫 ;

布拉戈维斯塔·韦格纳 .

中国专利 :CN107624159B ,2018-01-23

[5]

用于触发织机上织物检查的方法和系统 [P].

萨缪尔·科赫恩 .

中国专利 :CN111433399A ,2020-07-17

[6]

用于检查生产过程和/或工件特征的检查系统和相关方法 [P].

C·马赛蒂 ;

A·克雷莫尼尼 ;

A·德仁吉斯 ;

M·贝尔塔奇 .

:CN119013629A ,2024-11-22

[7]

表面检查系统和检查工件表面的方法 [P].

李·D·克莱门特 ;

迈克尔·E·福斯伊 .

中国专利 :CN1181135A ,1998-05-06

[8]

辐射检查系统和方法 [P].

李苏祺 ;

郑建斌 ;

胡晓伟 ;

王彦华 ;

王少锋 ;

曹艳锋 .

中国专利 :CN106383132A ,2017-02-08

[9]

检查系统和检查方法 [P].

张丽 ;

陈志强 ;

胡海峰 ;

李元景 ;

刘以农 ;

孙尚民 ;

张文宇 ;

邢宇翔 .

中国专利 :CN101424648B ,2009-05-06

[10]

检查方法和检查系统 [P].

弗雷德琳·迈巴赫 ;

马蒂亚斯·赫尔姆勒 .

中国专利 :CN107635677A ,2018-01-26

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