存储系统老化测试方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411045307.3

申请日：

2024-07-31

公开(公告)号：

CN119201504A

公开(公告)日：

2024-12-27

发明(设计)人：

孟凡超

申请人：

苏州元脑智能科技有限公司

申请人地址：

215128 江苏省苏州市吴中经济开发区郭巷街道官浦路1号9幢

IPC主分类号：

G06F11/00

IPC分类号：

G06F11/30 G06F11/34

代理机构：

北京路浩知识产权代理有限公司 11002

代理人：

罗艳

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-12-27	公开	公开
2025-01-14	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/00申请日:20240731

共 50 条

[1]

存储系统的测试系统、方法、电子设备及存储介质 [P].

齐武波 ;

许春 ;

路明远 ;

贾岛 .

中国专利 :CN120560919A ,2025-08-29

[2]

存储系统的测试系统、方法、电子设备及存储介质 [P].

齐武波 ;

许春 ;

路明远 ;

贾岛 .

中国专利 :CN120560919B ,2025-10-03

[3]

存储方法、存储系统、电子设备及存储介质 [P].

张立涛 .

中国专利 :CN109388549B ,2019-02-26

[4]

存储系统的控制方法及装置、电子设备、存储介质 [P].

谢志勇 ;

李仁刚 ;

张闯 .

中国专利 :CN119668527B ,2025-10-31

[5]

存储系统的控制方法及装置、电子设备、存储介质 [P].

谢志勇 ;

李仁刚 ;

张闯 .

中国专利 :CN119668527A ,2025-03-21

[6]

存储系统的测试方法、装置、存储介质和电子设备 [P].

赵培文 .

中国专利 :CN118132400A ,2024-06-04

[7]

数据存储系统、方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

张强 ;

秦建华 .

中国专利 :CN111597259A ,2020-08-28

[8]

存储系统扩容方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

谢卫东 ;

杨志欣 ;

仉长涛 ;

何琳琳 ;

石静 .

中国专利 :CN117631960A ,2024-03-01

[9]

信息存储系统、方法、存储介质及电子设备 [P].

郭广鑫 ;

潘鸣宇 ;

任天宇 ;

王小虎 ;

王超 ;

董佳涵 ;

李香龙 ;

李博文 ;

金童 ;

周启航 ;

王立永 .

中国专利 :CN117411687A ,2024-01-16

[10]

数据存储系统、方法、电子设备及存储介质 [P].

谭世伟 ;

方磊 .

中国专利 :CN119847418A ,2025-04-18

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