存储系统的测试系统、方法、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202511055666.1

申请日：

2025-07-30

公开(公告)号：

CN120560919B

公开(公告)日：

2025-10-03

发明(设计)人：

齐武波许春路明远贾岛

申请人：

苏州元脑智能科技有限公司

申请人地址：

215000 江苏省苏州市吴中经济开发区综保区经一路1号8幢

IPC主分类号：

G06F11/22

IPC分类号：

G06F11/273 G06F11/30

代理机构：

北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201

代理人：

黄琼

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-09-16	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/22申请日:20250730
2025-10-03	授权	授权
2025-08-29	公开	公开

共 50 条

[1]

存储系统的测试系统、方法、电子设备及存储介质 [P].

齐武波 ;

许春 ;

路明远 ;

贾岛 .

中国专利 :CN120560919A ,2025-08-29

[2]

测试方法、系统、电子设备及存储介质 [P].

代雪刚 ;

王勇 .

中国专利 :CN115617662A ,2023-01-17

[3]

存储方法、存储系统、电子设备及存储介质 [P].

张立涛 .

中国专利 :CN109388549B ,2019-02-26

[4]

端子测试方法、系统、电子设备及存储介质 [P].

涂志雄 ;

李玉琼 .

中国专利 :CN119011812A ,2024-11-22

[5]

存储系统老化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

孟凡超 .

中国专利 :CN119201504A ,2024-12-27

[6]

测试系统、测试方法、电子设备及存储介质 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN120723627A ,2025-09-30

[7]

测试系统、测试方法、电子设备及存储介质 [P].

陈昊 ;

郑明成 ;

贾占杰 .

中国专利 :CN118012381A ,2024-05-10

[8]

存储系统的测试方法、装置、存储介质和电子设备 [P].

赵培文 .

中国专利 :CN118132400A ,2024-06-04

[9]

信息存储系统、方法、存储介质及电子设备 [P].

郭广鑫 ;

潘鸣宇 ;

任天宇 ;

王小虎 ;

王超 ;

董佳涵 ;

李香龙 ;

李博文 ;

金童 ;

周启航 ;

王立永 .

中国专利 :CN117411687A ,2024-01-16

[10]

数据存储系统、方法、电子设备及存储介质 [P].

谭世伟 ;

方磊 .

中国专利 :CN119847418A ,2025-04-18

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