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蚀刻铟基半导体材料的方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202380043086.3
申请日
:
2023-04-26
公开(公告)号
:
CN119278502A
公开(公告)日
:
2025-01-07
发明(设计)人
:
凯蒂·霍尔
凯西亚·斯托克利
安德鲁·牛顿
凯文·鲍威尔
申请人
:
牛津仪器纳米技术工具有限公司
申请人地址
:
英国牛津郡
IPC主分类号
:
H01L21/3065
IPC分类号
:
H01J37/32
代理机构
:
北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112
代理人
:
张娜;徐成福
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-02-25
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):H01L 21/3065申请日:20230426
2025-01-07
公开
公开
共 50 条
[1]
半导体蚀刻方法
[P].
邓丽刚
论文数:
0
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0
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邓丽刚
;
凯蒂·霍尔
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凯蒂·霍尔
.
中国专利
:CN112567503A
,2021-03-26
[2]
半导体蚀刻方法
[P].
邓丽刚
论文数:
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机构:
牛津仪器纳米技术工具有限公司
牛津仪器纳米技术工具有限公司
邓丽刚
;
凯蒂·霍尔
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机构:
牛津仪器纳米技术工具有限公司
牛津仪器纳米技术工具有限公司
凯蒂·霍尔
.
英国专利
:CN112567503B
,2025-01-10
[3]
使用蚀刻气体蚀刻半导体结构的方法
[P].
R·古普塔
论文数:
0
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机构:
乔治洛德方法研究和开发液化空气有限公司
乔治洛德方法研究和开发液化空气有限公司
R·古普塔
;
V·R·帕里姆
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机构:
乔治洛德方法研究和开发液化空气有限公司
乔治洛德方法研究和开发液化空气有限公司
V·R·帕里姆
;
V·苏尔拉
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机构:
乔治洛德方法研究和开发液化空气有限公司
乔治洛德方法研究和开发液化空气有限公司
V·苏尔拉
;
C·安德森
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机构:
乔治洛德方法研究和开发液化空气有限公司
乔治洛德方法研究和开发液化空气有限公司
C·安德森
;
N·斯塔福德
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机构:
乔治洛德方法研究和开发液化空气有限公司
乔治洛德方法研究和开发液化空气有限公司
N·斯塔福德
.
法国专利
:CN111261512B
,2024-02-06
[4]
半导体材料的蚀刻方法及蚀刻机台的控制方法
[P].
张彪
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0
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机构:
湖北星辰技术有限公司
湖北星辰技术有限公司
张彪
.
中国专利
:CN119542135A
,2025-02-28
[5]
使用蚀刻气体蚀刻半导体结构的方法
[P].
R·古普塔
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R·古普塔
;
V·R·帕里姆
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V·R·帕里姆
;
V·苏尔拉
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V·苏尔拉
;
C·安德森
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C·安德森
;
N·斯塔福德
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N·斯塔福德
.
中国专利
:CN111261512A
,2020-06-09
[6]
使用蚀刻气体蚀刻半导体结构的方法
[P].
R·古普塔
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R·古普塔
;
V·R·帕里姆
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V·R·帕里姆
;
V·苏尔拉
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V·苏尔拉
;
C·安德森
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C·安德森
;
N·斯塔福德
论文数:
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N·斯塔福德
.
中国专利
:CN105580116B
,2016-05-11
[7]
半导体材料的选择性精确蚀刻
[P].
南森·马塞尔怀特
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南森·马塞尔怀特
;
朱济
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朱济
;
杰罗姆·米歇尔·多米尼克·美莱特
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杰罗姆·米歇尔·多米尼克·美莱特
;
大卫·穆伊
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大卫·穆伊
;
马克·直司·川口
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马克·直司·川口
;
阿德里安·拉沃伊
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阿德里安·拉沃伊
.
中国专利
:CN115668463A
,2023-01-31
[8]
用以蚀刻半导体材料的方法
[P].
珍·皮尔·柯林
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珍·皮尔·柯林
;
卡罗司·迪亚兹
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卡罗司·迪亚兹
;
马克范达尔
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0
马克范达尔
.
中国专利
:CN108231582B
,2018-06-29
[9]
一步合成铟基或镓基半导体材料的方法
[P].
论文数:
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机构:
周波
;
李伦昂
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机构:
南方科技大学
南方科技大学
李伦昂
;
论文数:
引用数:
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机构:
罗圣峰
;
王泽
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机构:
南方科技大学
南方科技大学
王泽
.
中国专利
:CN115974132B
,2025-09-16
[10]
氮化物半导体材料的蚀刻方法
[P].
彭隆瀚
论文数:
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彭隆瀚
;
庄志伟
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庄志伟
;
何晋国
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何晋国
;
陈金源
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陈金源
.
中国专利
:CN1060541C
,1999-03-31
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