一种存储器自动插拔测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202420818941.5

申请日：

2024-04-19

公开(公告)号：

CN222319759U

公开(公告)日：

2025-01-07

发明(设计)人：

石金明陆海华孙凌燕

申请人：

上海欧比特航天科技有限公司

申请人地址：

201802 上海市嘉定区众仁路399号1幢2层J1504室

IPC主分类号：

G11C29/56

IPC分类号：

H01R13/629

代理机构：

上海九泽律师事务所 31337

代理人：

周启安

法律状态：

授权

国省代码：

上海市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-01-07	授权	授权

共 50 条

[1]

一种存储器自动插拔测试装置 [P].

陈恩环 ;

张卡 .

中国专利 :CN216487324U ,2022-05-10

[2]

存储器测试装置 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN207690508U ,2018-08-03

[3]

存储器自动化测试装置 [P].

周庆健 ;

胡秋勇 ;

赖鼐 .

中国专利 :CN223273024U ,2025-08-26

[4]

一种存储器的测试装置 [P].

祝欣 ;

周家广 ;

邹华龙 .

中国专利 :CN220305990U ,2024-01-05

[5]

存储器芯片测试装置 [P].

刘泗宏 .

中国专利 :CN2847460Y ,2006-12-13

[6]

存储器测试装置及测试方法 [P].

马亚辉 .

中国专利 :CN119905137A ,2025-04-29

[7]

存储器测试装置及测试方法 [P].

马亚辉 .

中国专利 :CN119905137B ,2025-06-27

[8]

一种存储器测试装置 [P].

姜曾 ;

杨超 ;

马天赐 ;

刘建明 ;

陈瑶 ;

陈六赢 .

中国专利 :CN112349336A ,2021-02-09

[9]

一种立体封装存储器测试装置 [P].

石金明 ;

吴惠峰 ;

孙凌燕 ;

高佳华 .

中国专利 :CN213660008U ,2021-07-09

[10]

一种物理存储器的测试装置 [P].

欧阳文钧 ;

罗友辑 ;

曹瑀联 .

中国专利 :CN205881470U ,2017-01-11

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