存储器测试装置

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专利类型
实用新型
申请号
CN201721751730.0
申请日
2017-12-14
公开(公告)号
CN207690508U
公开(公告)日
2018-08-03
发明(设计)人
不公告发明人
申请人
申请人地址
230000 安徽省合肥市经济技术开发区翠微路6号海恒大厦526室
IPC主分类号
G11C2956
IPC分类号
代理机构
北京市铸成律师事务所 11313
代理人
张臻贤;武晨燕
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
存储器测试装置及测试方法 [P]. 
不公告发明人 .
中国专利 :CN107945834A ,2018-04-20
[2]
存储器芯片测试装置 [P]. 
刘泗宏 .
中国专利 :CN2847460Y ,2006-12-13
[3]
存储器测试装置及应用该存储器测试装置的存储器测试机 [P]. 
资重兴 ;
连绅尧 .
中国专利 :CN2845101Y ,2006-12-06
[4]
Nand flash存储器测试装置 [P]. 
孙文琪 .
中国专利 :CN222337929U ,2025-01-10
[5]
存储器测试装置与存储器测试方法 [P]. 
苏锦荣 ;
黄睿夫 .
中国专利 :CN104835536A ,2015-08-12
[6]
存储器测试装置及存储器测试方法 [P]. 
中本幸夫 .
中国专利 :CN1233059A ,1999-10-27
[7]
存储器测试装置和存储器测试方法 [P]. 
濮必得 ;
殷和国 .
中国专利 :CN118571304A ,2024-08-30
[8]
存储器测试装置和存储器测试方法 [P]. 
濮必得 ;
殷和国 .
中国专利 :CN118571304B ,2024-11-05
[9]
宽频存储器测试装置及其存储器测试方法 [P]. 
林哲民 ;
梁志玮 .
中国专利 :CN105321580A ,2016-02-10
[10]
TF卡存储器组合测试装置 [P]. 
吴晓凌 ;
林炳地 ;
郑建培 .
中国专利 :CN222580774U ,2025-03-07