一种光电导天线芯片快速测试装置及其测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411381680.6

申请日：

2024-09-30

公开(公告)号：

CN119147949A

公开(公告)日：

2024-12-17

发明(设计)人：

杨延召吴斌蔡高航张集权赵耀尚福洲

申请人：

中国电子科技集团公司第四十一研究所

申请人地址：

266000 山东省青岛市黄岛区香江路98号

IPC主分类号：

G01R31/311

IPC分类号：

代理机构：

青岛华慧泽专利代理事务所(普通合伙) 37247

代理人：

孟令辉

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-12-05	授权	授权
2024-12-17	公开	公开
2025-01-03	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/311申请日:20240930

共 50 条

[1]

一种光电导天线芯片快速测试装置及其测试方法 [P].

杨延召 ;

吴斌 ;

蔡高航 ;

张集权 ;

赵耀 ;

尚福洲 .

中国专利 :CN119147949B ,2025-12-05

[2]

一种芯片测试方法及其测试装置 [P].

李金钵 ;

郭艳飞 .

中国专利 :CN118091374B ,2024-07-09

[3]

一种芯片测试装置及其测试方法 [P].

刘红桥 ;

刘洋 ;

沈雨晴 .

中国专利 :CN120559439A ,2025-08-29

[4]

一种芯片测试方法及其测试装置 [P].

李金钵 ;

郭艳飞 .

中国专利 :CN118091374A ,2024-05-28

[5]

硅基光电集成芯片的测试装置、硅基光电集成芯片及其测试方法 [P].

侯广辉 ;

葛颖 ;

郭奥楠 .

中国专利 :CN119087181A ,2024-12-06

[6]

一种芯片测试装置及天线封装芯片 [P].

章欣 ;

王典 ;

李珊 .

中国专利 :CN210668281U ,2020-06-02

[7]

芯片测试方法及芯片测试装置 [P].

孙文琪 ;

高伟 .

中国专利 :CN119003257A ,2024-11-22

[8]

一种芯片测试装置及测试方法 [P].

王稳稳 .

中国专利 :CN118571298A ,2024-08-30

[9]

光电芯片测试装置 [P].

谢翔 ;

吴宏 ;

王丹 .

中国专利 :CN216622581U ,2022-05-27

[10]

一种芯片测试器及芯片测试装置 [P].

常文龙 ;

李贝贝 .

中国专利 :CN118671559A ,2024-09-20

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