一种半导体检测用翻转装置

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202420947427.1
申请日
2024-05-05
公开(公告)号
CN222158881U
公开(公告)日
2024-12-13
发明(设计)人
葛文志
申请人
浙江美鑫半导体有限公司
申请人地址
314423 浙江省嘉兴市海宁市长安镇新潮路15号1幢5层
IPC主分类号
B65G47/248
IPC分类号
H01L21/677 B65G47/91
代理机构
杭州一串数字知识产权代理有限公司 33437
代理人
王卫
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种半导体检测用翻转装置 [P]. 
宋忠涛 ;
孙星星 .
中国专利 :CN222689783U ,2025-03-28
[2]
一种半导体检测用翻转装置 [P]. 
韩智强 ;
吴昌利 .
中国专利 :CN222029066U ,2024-11-19
[3]
一种半导体检测用翻转装置 [P]. 
周国成 .
中国专利 :CN220906322U ,2024-05-07
[4]
一种半导体检测用翻转装置 [P]. 
张方 .
中国专利 :CN220392473U ,2024-01-26
[5]
一种半导体检测用翻转装置 [P]. 
张娉婷 .
中国专利 :CN221078824U ,2024-06-04
[6]
半导体检测用翻转结构 [P]. 
张帆 .
中国专利 :CN222232524U ,2024-12-24
[7]
一种半导体检测用翻转台 [P]. 
李云峰 .
中国专利 :CN215848042U ,2022-02-18
[8]
一种半导体检测用翻转治具 [P]. 
赵昊 .
中国专利 :CN220290784U ,2024-01-02
[9]
半导体检测装置 [P]. 
肖良红 .
中国专利 :CN111346831A ,2020-06-30
[10]
一种医用半导体检测装置及检测方法 [P]. 
陈圣颖 ;
胡泓涛 .
中国专利 :CN121164878A ,2025-12-19