一种半导体检测用翻转装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202420838211.1

申请日：

2024-04-22

公开(公告)号：

CN222689783U

公开(公告)日：

2025-03-28

发明(设计)人：

宋忠涛孙星星

申请人：

上海佳宽电子科技有限公司

申请人地址：

201500 上海市金山卫镇钱鑫路303号141室

IPC主分类号：

G01R1/04

IPC分类号：

代理机构：

北京明远慧创专利代理事务所(普通合伙) 16317

代理人：

赵磊

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-03-28	授权	授权

共 50 条

[1]

一种半导体检测用翻转装置 [P].

韩智强 ;

吴昌利 .

中国专利 :CN222029066U ,2024-11-19

[2]

一种半导体检测用翻转装置 [P].

周国成 .

中国专利 :CN220906322U ,2024-05-07

[3]

一种半导体检测用翻转装置 [P].

葛文志 .

中国专利 :CN222158881U ,2024-12-13

[4]

一种半导体检测用翻转装置 [P].

张方 .

中国专利 :CN220392473U ,2024-01-26

[5]

一种半导体检测用翻转装置 [P].

张娉婷 .

中国专利 :CN221078824U ,2024-06-04

[6]

一种半导体检测用翻转台 [P].

李云峰 .

中国专利 :CN215848042U ,2022-02-18

[7]

一种半导体检测装置 [P].

朴佳奇 .

中国专利 :CN221238990U ,2024-06-28

[8]

半导体检测用翻转结构 [P].

张帆 .

中国专利 :CN222232524U ,2024-12-24

[9]

一种半导体检测用翻转治具 [P].

赵昊 .

中国专利 :CN220290784U ,2024-01-02

[10]

一种半导体检测用椭偏仪 [P].

郭冰冰 .

中国专利 :CN212432965U ,2021-01-29

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