一种半导体检测用椭偏仪

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202020719488.4

申请日：

2020-05-06

公开(公告)号：

CN212432965U

公开(公告)日：

2021-01-29

发明(设计)人：

郭冰冰

申请人：

申请人地址：

414000 湖南省岳阳市岳阳楼区花板桥路紫荆华庭A栋601室(花板桥社区)

IPC主分类号：

G01N2121

IPC分类号：

G01N2101 G01J400 G01B1106

代理机构：

长沙明新专利代理事务所(普通合伙) 43222

代理人：

叶舟

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-04-12	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 21/21 申请日:20200506 授权公告日:20210129 终止日期:20210506
2021-01-29	授权	授权

共 50 条

[1]

一种半导体检测用椭偏仪 [P].

徐勇宜 ;

于国斌 .

中国专利 :CN213482047U ,2021-06-18

[2]

一种半导体检测用方便使用的椭偏仪 [P].

欧艳艳 ;

于国斌 .

中国专利 :CN213422227U ,2021-06-11

[3]

一种半导体检测用可水平调节的椭偏仪 [P].

陈光宇 .

中国专利 :CN213120437U ,2021-05-04

[4]

一种半导体检测用基于磁光效应的成像椭偏仪 [P].

黎君玲 ;

张弓 .

中国专利 :CN213209897U ,2021-05-14

[5]

一种半导体检测用翻转装置 [P].

宋忠涛 ;

孙星星 .

中国专利 :CN222689783U ,2025-03-28

[6]

一种半导体检测用辅助装置 [P].

杜浩晨 ;

王光辉 .

中国专利 :CN214278262U ,2021-09-24

[7]

半导体检测用定位组件 [P].

佘坚勇 ;

刘东学 ;

谭宏德 .

中国专利 :CN209374405U ,2019-09-10

[8]

一种半导体检测装置 [P].

朴佳奇 .

中国专利 :CN221238990U ,2024-06-28

[9]

一种激光椭偏仪 [P].

魏文文 ;

孙晨财 ;

陈呈 ;

高荣刚 ;

勾宪芳 ;

王鹏 ;

姜利凯 .

中国专利 :CN202119404U ,2012-01-18

[10]

一种半导体检测用定位组件 [P].

赵强 ;

张静 .

中国专利 :CN213401100U ,2021-06-08

← 1 2 3 4 5 →