一种半导体检测用方便使用的椭偏仪

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202022283062.1

申请日：

2020-10-14

公开(公告)号：

CN213422227U

公开(公告)日：

2021-06-11

发明(设计)人：

欧艳艳于国斌

申请人：

申请人地址：

510000 广东省广州市海珠区晓港中马路130号之十八

IPC主分类号：

G01D1130

IPC分类号：

代理机构：

广州人才汇进知识产权代理事务所(普通合伙) 44763

代理人：

袁翔

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-09-23	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01D 11/30 申请日:20201014 授权公告日:20210611 终止日期:20211014
2021-06-11	授权	授权

共 50 条

[1]

一种半导体检测用椭偏仪 [P].

徐勇宜 ;

于国斌 .

中国专利 :CN213482047U ,2021-06-18

[2]

一种半导体检测用椭偏仪 [P].

郭冰冰 .

中国专利 :CN212432965U ,2021-01-29

[3]

一种半导体检测用基于磁光效应的成像椭偏仪 [P].

黎君玲 ;

张弓 .

中国专利 :CN213209897U ,2021-05-14

[4]

一种半导体检测用可水平调节的椭偏仪 [P].

陈光宇 .

中国专利 :CN213120437U ,2021-05-04

[5]

一种半导体检测用定位组件 [P].

赵强 ;

张静 .

中国专利 :CN213401100U ,2021-06-08

[6]

一种用于半导体检测的检测台 [P].

杨斌 ;

黄峰荣 ;

何秋生 .

中国专利 :CN217879326U ,2022-11-22

[7]

一种半导体检测用可旋转的激光测量仪 [P].

谢泽宇 ;

李随群 .

中国专利 :CN213238770U ,2021-05-18

[8]

一种方便使用的冷敷仪 [P].

朱江涛 ;

向文林 ;

邹加兵 ;

刘继辉 ;

汤颖颖 ;

许立 ;

黄子亮 ;

陈可夫 ;

张琦 ;

向文明 ;

郑国庆 .

中国专利 :CN220588433U ,2024-03-15

[9]

一种半导体检测治具 [P].

陈磊磊 .

中国专利 :CN212722998U ,2021-03-16

[10]

一种半导体检测用翻转装置 [P].

周国成 .

中国专利 :CN220906322U ,2024-05-07

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