一种用于半导体检测的检测台

被引：0

申请号：

CN202221728684.3

申请日：

2022-07-04

公开(公告)号：

CN217879326U

公开(公告)日：

2022-11-22

发明(设计)人：

杨斌黄峰荣何秋生

申请人：

申请人地址：

528300 广东省佛山市顺德区容桂桂洲居委会梯云路21号首层之一

IPC主分类号：

G01R104

IPC分类号：

G01R3126

代理机构：

北京和联顺知识产权代理有限公司 11621

代理人：

刘洪彪

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-11-22	授权	授权

共 50 条

[1]

一种半导体检测用工作台 [P].

杜浩晨 ;

王光辉 .

中国专利 :CN214278263U ,2021-09-24

[2]

一种用于半导体检测的治具 [P].

孙帅伟 .

中国专利 :CN220473381U ,2024-02-09

[3]

一种半导体检测工装 [P].

罗宏 .

中国专利 :CN223532310U ,2025-11-11

[4]

一种半导体检测装置 [P].

王垚森 .

中国专利 :CN216160766U ,2022-04-01

[5]

一种半导体检测设备位移台 [P].

李江欢 .

中国专利 :CN221841071U ,2024-10-15

[6]

可用于半导体检测的装置 [P].

梁士明 ;

王常春 ;

马登学 ;

刘增欣 ;

陈奎永 ;

胡尊富 .

中国专利 :CN209166357U ,2019-07-26

[7]

用于半导体检测设备的机台及半导体检测设备 [P].

王庆涛 .

中国专利 :CN222774517U ,2025-04-18

[8]

一种半导体检测用测试台 [P].

张静 ;

赵浩 ;

陈博 ;

黎载红 .

中国专利 :CN215116615U ,2021-12-10

[9]

半导体检测结构 [P].

包自意 .

中国专利 :CN204651291U ,2015-09-16

[10]

半导体检测结构 [P].

廖育德 ;

蔡甦谷 .

中国专利 :CN205984977U ,2017-02-22

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