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一种半导体检测装置
被引:0
申请号
:
CN202122103017.8
申请日
:
2021-09-02
公开(公告)号
:
CN216160766U
公开(公告)日
:
2022-04-01
发明(设计)人
:
王垚森
申请人
:
申请人地址
:
215124 江苏省苏州市工业园区金鸡湖大道99号纳米城20幢422
IPC主分类号
:
G01R3126
IPC分类号
:
G01R102
G01R104
B25H100
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-04-01
授权
授权
共 50 条
[1]
一种半导体检测装置
[P].
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
赵帅
;
胡元茂
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
重庆理工大学
重庆理工大学
胡元茂
.
中国专利
:CN117637510B
,2024-10-29
[2]
一种半导体检测装置
[P].
朴佳奇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
沈阳庆东机械制造有限公司
沈阳庆东机械制造有限公司
朴佳奇
.
中国专利
:CN221238990U
,2024-06-28
[3]
一种半导体检测装置
[P].
陈华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈华
.
中国专利
:CN208888337U
,2019-05-21
[4]
一种半导体检测装置
[P].
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
赵帅
;
胡元茂
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
重庆理工大学
重庆理工大学
胡元茂
.
中国专利
:CN117637510A
,2024-03-01
[5]
一种半导体检测用辅助装置
[P].
杜浩晨
论文数:
0
引用数:
0
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0
杜浩晨
;
王光辉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王光辉
.
中国专利
:CN214278262U
,2021-09-24
[6]
半导体检测装置
[P].
余宏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
余宏
.
中国专利
:CN206892268U
,2018-01-16
[7]
半导体检测装置
[P].
肖良红
论文数:
0
引用数:
0
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0
肖良红
.
中国专利
:CN111346831A
,2020-06-30
[8]
半导体检测装置
[P].
请求不公布姓名
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
高视科技(苏州)股份有限公司
高视科技(苏州)股份有限公司
请求不公布姓名
;
请求不公布姓名
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
高视科技(苏州)股份有限公司
高视科技(苏州)股份有限公司
请求不公布姓名
;
请求不公布姓名
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
高视科技(苏州)股份有限公司
高视科技(苏州)股份有限公司
请求不公布姓名
.
中国专利
:CN121186081A
,2025-12-23
[9]
一种半导体检测装置
[P].
王小花
论文数:
0
引用数:
0
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0
王小花
.
中国专利
:CN214473491U
,2021-10-22
[10]
一种半导体检测装置
[P].
刘理金
论文数:
0
引用数:
0
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0
刘理金
.
中国专利
:CN216595383U
,2022-05-24
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