一种半导体检测装置

被引:0
申请号
CN202122103017.8
申请日
2021-09-02
公开(公告)号
CN216160766U
公开(公告)日
2022-04-01
发明(设计)人
王垚森
申请人
申请人地址
215124 江苏省苏州市工业园区金鸡湖大道99号纳米城20幢422
IPC主分类号
G01R3126
IPC分类号
G01R102 G01R104 B25H100
代理机构
代理人
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种半导体检测装置 [P]. 
赵帅 ;
胡元茂 .
中国专利 :CN117637510B ,2024-10-29
[2]
一种半导体检测装置 [P]. 
朴佳奇 .
中国专利 :CN221238990U ,2024-06-28
[3]
一种半导体检测装置 [P]. 
陈华 .
中国专利 :CN208888337U ,2019-05-21
[4]
一种半导体检测装置 [P]. 
赵帅 ;
胡元茂 .
中国专利 :CN117637510A ,2024-03-01
[5]
一种半导体检测用辅助装置 [P]. 
杜浩晨 ;
王光辉 .
中国专利 :CN214278262U ,2021-09-24
[6]
半导体检测装置 [P]. 
余宏 .
中国专利 :CN206892268U ,2018-01-16
[7]
半导体检测装置 [P]. 
肖良红 .
中国专利 :CN111346831A ,2020-06-30
[8]
半导体检测装置 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN121186081A ,2025-12-23
[9]
一种半导体检测装置 [P]. 
王小花 .
中国专利 :CN214473491U ,2021-10-22
[10]
一种半导体检测装置 [P]. 
刘理金 .
中国专利 :CN216595383U ,2022-05-24