一种半导体检测装置

被引：0

申请号：

CN202123038949.5

申请日：

2021-12-06

公开(公告)号：

CN216595383U

公开(公告)日：

2022-05-24

发明(设计)人：

刘理金

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市福田区华强北街道华航社区华富路1006号航都大厦24层A房

IPC主分类号：

G01R3126

IPC分类号：

G01R104

代理机构：

深圳市康弘知识产权代理有限公司 44247

代理人：

林雪

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-05-24	授权	授权

共 50 条

[1]

半导体检测装置 [P].

余宏 .

中国专利 :CN206892268U ,2018-01-16

[2]

半导体检测装置 [P].

岸本清治 .

中国专利 :CN1393921A ,2003-01-29

[3]

一种半导体检测装置 [P].

王小花 .

中国专利 :CN214473491U ,2021-10-22

[4]

一种半导体检测装置 [P].

朴佳奇 .

中国专利 :CN221238990U ,2024-06-28

[5]

一种半导体检测装置 [P].

王垚森 .

中国专利 :CN216160766U ,2022-04-01

[6]

一种半导体检测装置 [P].

陈华 .

中国专利 :CN208888337U ,2019-05-21

[7]

一种半导体检测装置 [P].

赵强 ;

张静 .

中国专利 :CN213825985U ,2021-07-30

[8]

一种半导体检测装置 [P].

陈宏成 ;

沈震 .

中国专利 :CN221631489U ,2024-08-30

[9]

一种半导体检测装置 [P].

周脉强 .

中国专利 :CN220691004U ,2024-03-29

[10]

一种半导体检测装置 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN205333836U ,2016-06-22

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