一种用于分析高纯氢气中杂质的气相色谱检测系统及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410919640.6

申请日：

2024-07-10

公开(公告)号：

CN119198931A

公开(公告)日：

2024-12-27

发明(设计)人：

许征光黄欢朱岩顾潮春

申请人：

南京霍普斯科技有限公司

申请人地址：

211800 江苏省南京市江北新区星火路19号星智汇10栋

IPC主分类号：

G01N30/02

IPC分类号：

G01N30/20 G01N30/64

代理机构：

南京汇业佳知识产权代理事务所(普通合伙) 32708

代理人：

李安

法律状态：

公开

国省代码：

江苏省南京市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-12-27	公开	公开
2025-01-14	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 30/02申请日:20240710

共 50 条

[1]

一种高纯气体中微量杂质分析的气相色谱检测系统 [P].

闫云 ;

段亚林 ;

朱伶露 ;

杜新利 ;

吴晗 ;

韩述宇 ;

张素静 .

中国专利 :CN213957266U ,2021-08-13

[2]

用于分析丙烯中烃类杂质及微量气体的气相色谱检测系统 [P].

周广斌 ;

郑哲 ;

王东富 ;

赵园 ;

陈腾 .

中国专利 :CN212514443U ,2021-02-09

[3]

超高纯气体中微量杂质分析的气相色谱检测系统及方法 [P].

李聪 .

中国专利 :CN102628846A ,2012-08-08

[4]

超高纯气体中微量杂质分析的气相色谱检测系统 [P].

李聪 .

中国专利 :CN202548108U ,2012-11-21

[5]

一种用于分析He中氢同位素及微量杂质组分的气相色谱检测系统及方法 [P].

杨丽玲 ;

杨洪广 ;

占勤 ;

何长水 ;

刘振启 .

中国专利 :CN105572250B ,2016-05-11

[6]

高纯氨气中无机杂质的分析检测系统及方法 [P].

许军州 ;

沈新民 ;

刘品 ;

张捷 .

中国专利 :CN118348162A ,2024-07-16

[7]

用于高纯锗烷气中微量杂质分析的氦离子化气相色谱仪 [P].

庄鸿涛 ;

郁光 ;

方华 .

中国专利 :CN103675140A ,2014-03-26

[8]

用于高纯锗烷气中微量杂质分析的氦离子化气相色谱仪 [P].

庄鸿涛 ;

郁光 ;

方华 .

中国专利 :CN203672844U ,2014-06-25

[9]

高纯氨气中无机杂质的分析检测系统 [P].

许军州 ;

沈新民 ;

请求不公布姓名 ;

张捷 .

中国专利 :CN222704556U ,2025-04-01

[10]

一种高纯氪中微量杂质的气相色谱分析系统 [P].

闫红伟 ;

戚芮甲 ;

李莎莎 ;

张秀蕊 ;

刘莉芳 ;

周沛沛 ;

李行 ;

张子阳 .

中国专利 :CN222212696U ,2024-12-20

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