一种电子芯片视觉检测设备以及检测方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202411528421.1
申请日
2024-10-30
公开(公告)号
CN119198719A
公开(公告)日
2024-12-27
发明(设计)人
康素成
申请人
盐城师范学院
申请人地址
224000 江苏省盐城市经济技术开发区希望大道南路2号
IPC主分类号
G01N21/84
IPC分类号
G01N21/892 G01N21/01 G01N1/34 G01N21/15
代理机构
南通市集优专利代理事务所(普通合伙) 32651
代理人
徐磊
法律状态
实质审查的生效
国省代码
江苏省 盐城市
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共 50 条
[1]
一种半自动的电子芯片视觉检测设备 [P]. 
郑振兴 ;
梁鹏 ;
郝刚 ;
林智勇 ;
陈智斌 .
中国专利 :CN114324162A ,2022-04-12
[2]
一种芯片自动检测设备及检测方法 [P]. 
饶思忠 .
中国专利 :CN118483552A ,2024-08-13
[3]
一种芯片自动检测设备及检测方法 [P]. 
饶思忠 .
中国专利 :CN118483552B ,2025-01-28
[4]
芯片视觉检测设备及其检测方法 [P]. 
叶明华 .
中国专利 :CN113770038A ,2021-12-10
[5]
一种芯片视觉检测机构及检测方法 [P]. 
何飞 ;
李全威 .
中国专利 :CN114910487B ,2025-07-11
[6]
一种芯片视觉检测机构及检测方法 [P]. 
何飞 ;
李全威 .
中国专利 :CN114910487A ,2022-08-16
[7]
一种芯片加工用检测设备 [P]. 
金麒龙 .
中国专利 :CN121027790A ,2025-11-28
[8]
电容芯片视觉检测设备 [P]. 
蔡铭东 .
中国专利 :CN215179718U ,2021-12-14
[9]
一种电子芯片检测设备 [P]. 
周珅冬 ;
周明 ;
顾理建 .
中国专利 :CN223139614U ,2025-07-22
[10]
一种电子芯片检测设备 [P]. 
李越 .
中国专利 :CN223332912U ,2025-09-12