一种内存泄漏检测方法、装置、电子设备及存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202411499099.4
申请日
2024-10-25
公开(公告)号
CN119473671A
公开(公告)日
2025-02-18
发明(设计)人
杨旭 占一可 朱周平 刘东鑫
申请人
中国电信股份有限公司技术创新中心 中国电信股份有限公司
申请人地址
102209 北京市昌平区北七家镇未来科技城南区中国电信北京信息科技创新园11层1118室、1116室
IPC主分类号
G06F11/07
IPC分类号
代理机构
北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291
代理人
罗欢
法律状态
实质审查的生效
国省代码
北京市 市辖区
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共 50 条
[1]
内存泄漏检测方法、电子设备及存储介质 [P]. 
朱潇 ;
赵俊民 .
中国专利 :CN118484377B ,2025-03-11
[2]
内存泄漏检测方法、电子设备及存储介质 [P]. 
朱潇 ;
赵俊民 .
中国专利 :CN118484377A ,2024-08-13
[3]
内存泄漏检测方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
张艺林 .
中国专利 :CN110727585A ,2020-01-24
[4]
内存泄漏检测方法、装置、电子设备以及存储介质 [P]. 
丘衍 .
中国专利 :CN119537167A ,2025-02-28
[5]
内存泄漏检测方法、装置、电子设备以及存储介质 [P]. 
丘衍 .
中国专利 :CN119537167B ,2025-09-30
[6]
内存泄漏检测方法、装置和电子设备 [P]. 
许晶 ;
王鑫 ;
杜君 ;
樊琳 ;
丁娴 ;
李腾浩 ;
王晓东 ;
聂睿 ;
郭艳鹏 ;
王爽 ;
赵婷 ;
杨艺宁 ;
付利莉 ;
梁召庆 ;
王志强 ;
赵世杰 .
中国专利 :CN118132404A ,2024-06-04
[7]
内存泄漏检测方法、可读介质和电子设备 [P]. 
杨林 .
中国专利 :CN116680161B ,2024-06-07
[8]
内存泄漏检测方法、装置和电子设备 [P]. 
许晶 ;
王鑫 ;
杜君 ;
樊琳 ;
丁娴 ;
李腾浩 ;
王晓东 ;
聂睿 ;
郭艳鹏 ;
王爽 ;
赵婷 ;
杨艺宁 ;
付利莉 ;
梁召庆 ;
王志强 ;
赵世杰 .
中国专利 :CN118132404B ,2024-07-23
[9]
内存泄漏的检测方法、电子设备、存储介质及系统 [P]. 
赵欣 ;
袁福利 .
中国专利 :CN114356630A ,2022-04-15
[10]
一种泄漏检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
柯建华 ;
徐迎 ;
李广义 .
中国专利 :CN115019265A ,2022-09-06