纳米线与纳米线间界面作用力测量方法及装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202210137176.6

申请日：

2022-02-15

公开(公告)号：

CN114689659B

公开(公告)日：

2025-01-14

发明(设计)人：

曹振兴梁凤芝黄涛王一鸣董慧龙袁凤秦余杨王均溢杨溢

申请人：

常熟理工学院

申请人地址：

215500 江苏省苏州市常熟市南三环路99号

IPC主分类号：

G01N27/04

IPC分类号：

G01L1/20

代理机构：

南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204

代理人：

张俊范

法律状态：

授权

国省代码：

江苏省苏州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-01-14	授权	授权
2025-11-25	专利权人的姓名或者名称、国籍和地址的变更	专利权人的姓名或者名称、国籍和地址的变更IPC(主分类):G01N 27/04变更事项:专利权人变更前:常熟理工学院变更后:苏州工学院变更事项:国家或地区变更前:中国变更后:中国变更事项:地址变更前:215500 江苏省苏州市常熟市南三环路99号变更后:215500 江苏省苏州市常熟市南三环路99号

共 50 条

[1]

纳米线与纳米线间界面作用力测量方法及装置 [P].

曹振兴 ;

梁凤芝 ;

黄涛 ;

王一鸣 ;

董慧龙 ;

袁凤 ;

秦余杨 ;

王均溢 ;

杨溢 .

中国专利 :CN114689659A ,2022-07-01

[2]

纳米线与基底间界面作用力测量方法及装置 [P].

曹振兴 ;

梁凤芝 ;

黄涛 ;

王均溢 ;

杨溢 ;

王一鸣 ;

魏勇 ;

李文建 .

中国专利 :CN114689658A ,2022-07-01

[3]

纳米线压电系数d33的测量装置及测量方法 [P].

秦勇 ;

刘书海 .

中国专利 :CN105759130A ,2016-07-13

[4]

纳米线带隙分布的测量方法 [P].

何宇俊 ;

李东琦 ;

张金 ;

张丽娜 ;

姜开利 ;

范守善 .

中国专利 :CN104569013B ,2015-04-29

[5]

纳米线、纳米线的生产方法及电子装置 [P].

李银京 ;

崔秉龙 ;

朴京洙 ;

韩在熔 .

中国专利 :CN101643196B ,2010-02-10

[6]

纳米线成像装置及群折射率测量方法 [P].

刘新风 ;

吴宪欣 ;

张帅 ;

杜文娜 .

中国专利 :CN115684011A ,2023-02-03

[7]

纳米线成像装置及群折射率测量方法 [P].

刘新风 ;

吴宪欣 ;

张帅 ;

杜文娜 .

中国专利 :CN115684011B ,2025-04-15

[8]

一种水下清洗盘作用力测试装置及作用力测量方法 [P].

宋长会 ;

陈浩 ;

张利萍 .

中国专利 :CN110375891B ,2019-10-25

[9]

磁场控制的磁性纳米线的测量方法 [P].

许云丽 ;

刘磊 ;

李应琛 ;

易立志 ;

潘礼庆 .

中国专利 :CN113759152A ,2021-12-07

[10]

磁场控制的磁性纳米线的测量方法 [P].

许云丽 ;

刘磊 ;

李应琛 ;

易立志 ;

潘礼庆 .

中国专利 :CN113759152B ,2024-03-12

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