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纳米线成像装置及群折射率测量方法

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202211236686.5
申请日：
2022-10-10
公开(公告)号：
CN115684011B
公开(公告)日：
2025-04-15
发明(设计)人：
刘新风 吴宪欣 张帅 杜文娜
申请人：
国家纳米科学中心
申请人地址：
100190 北京市海淀区中关村北一条11号
IPC主分类号：
G01N21/01
IPC分类号：
G01N21/41
代理机构：
北京路浩知识产权代理有限公司 11002
代理人：
黄爽
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-04-15 授权 授权
共 50 条
[1]
纳米线成像装置及群折射率测量方法 [P]. 
刘新风 ;
吴宪欣 ;
张帅 ;
杜文娜 .
中国专利 :CN115684011A ,2023-02-03
[2]
液体折射率测量装置及测量方法 [P]. 
张松 ;
谈宜东 ;
张书练 .
中国专利 :CN107064065A ,2017-08-18
[3]
折射率测量方法、折射率测量装置及光学元件制造方法 [P]. 
杉本智洋 .
中国专利 :CN105339778A ,2016-02-17
[4]
折射率的测量方法和折射率的测量装置 [P]. 
杉本智洋 .
中国专利 :CN102435584B ,2012-05-02
[5]
一种折射率测量设备、折射率测量方法和装置 [P]. 
牛亚男 ;
彭锦涛 ;
彭宽军 .
中国专利 :CN106290254A ,2017-01-04
[6]
折射率分布测量方法和折射率分布测量装置 [P]. 
杉本智洋 .
中国专利 :CN102062677B ,2011-05-18
[7]
折射率分布测量方法和折射率分布测量装置 [P]. 
杉本智洋 .
中国专利 :CN102918373B ,2013-02-06
[8]
镜片折射率测量装置及其测量方法 [P]. 
刘义兵 ;
孙昭 ;
刘力威 .
中国专利 :CN112556990A ,2021-03-26
[9]
镜片折射率测量装置及其测量方法 [P]. 
刘义兵 ;
孙昭 ;
刘力威 .
中国专利 :CN112556990B ,2025-02-14
[10]
折射率传感装置及测量方法 [P]. 
谈宜东 ;
代宗仁 .
中国专利 :CN111678892B ,2020-09-18
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