光学特性測定方法および光学特性測定装置[ja]

被引：0

申请号：

JP20210006934

申请日：

2021-01-20

公开(公告)号：

JP7624653B2

公开(公告)日：

2025-01-31

发明(设计)人：

申请人：

申请人地址：

IPC主分类号：

G01M11/02

IPC分类号：

G02B6/02

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法律状态信息

共 50 条

[1]

光学特性測定方法および光学特性測定装置[ja] [P].

日本专利 :JP7536238B2 ,2024-08-20

[2]

光学特性測定装置および光学特性測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP5721586B2 ,2015-05-20

[3]

光学特性測定装置および光学特性測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP6678901B2 ,2020-04-15

[4]

光学特性測定装置および光学特性測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP6762221B2 ,2020-09-30

[5]

光学特性測定方法および光学特性測定装置[ja] [P].

日本专利 :JP7624651B2 ,2025-01-31

[6]

光学特性測定装置および光学特性測定方法[ja] [P].

日本专利 :JPWO2015182571A1 ,2017-04-20

[7]

光学特性測定装置および光学特性測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP6658517B2 ,2020-03-04

[8]

光学特性測定光学系および光学特性測定装置[ja] [P].

KAWASAKI TAKASHI ;

TERAOKA YOSHITAKA ;

UDA TAKUSHI ;

MOCHIDA SHOGO ;

KONNO KENJI .

日本专利 :JP2025063237A ,2025-04-15

[9]

光学特性測定光学系および光学特性測定装置[ja] [P].

日本专利 :JP7708341B2 ,2025-07-15

[10]

光学特性測定装置および測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP2025176499A ,2025-12-04

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