光学特性測定光学系および光学特性測定装置[ja]

被引:0
申请号
JP20250007831
申请日
2025-01-20
公开(公告)号
JP2025063237A
公开(公告)日
2025-04-15
发明(设计)人
KAWASAKI TAKASHI TERAOKA YOSHITAKA UDA TAKUSHI MOCHIDA SHOGO KONNO KENJI
申请人
KONICA MINOLTA INC
申请人地址
IPC主分类号
G02B13/24
IPC分类号
G02B13/00
代理机构
代理人
法律状态
国省代码
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共 50 条
[1]
光学特性測定光学系および光学特性測定装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP7708341B2 ,2025-07-15
[2]
光学特性測定方法および光学特性測定装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP7536238B2 ,2024-08-20
[3]
光学特性測定装置および光学特性測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP5721586B2 ,2015-05-20
[4]
光学特性測定装置および光学特性測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6678901B2 ,2020-04-15
[5]
光学特性測定方法および光学特性測定装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP7624653B2 ,2025-01-31
[6]
光学特性測定装置および光学特性測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6762221B2 ,2020-09-30
[7]
光学特性測定方法および光学特性測定装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP7624651B2 ,2025-01-31
[8]
光学特性測定装置および光学特性測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2015182571A1 ,2017-04-20
[9]
光学特性測定装置および光学特性測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6658517B2 ,2020-03-04
[10]
光学特性測定装置及び光学特性測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP7632472B2 ,2025-02-19