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一种晶圆的动态参数测试电路及测试方法
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202411865864.X
申请日：
2024-12-18
公开(公告)号：
CN119335350A
公开(公告)日：
2025-01-21
发明(设计)人：
王煜
申请人：
赛英特半导体技术（西安）有限公司
申请人地址：
710117 陕西省西安市高新区西部大道170号西安丰泽科技园2号楼401室
IPC主分类号：
G01R31/26
IPC分类号：
H01L21/66
代理机构：
西安维英格知识产权代理事务所(普通合伙) 61253
代理人：
沈寒酉;李斌栋
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
江苏省
常州市
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2025-02-14 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/26申请日:20241218 |
| 2025-09-23 | 授权 | 授权 |
| 2025-01-21 | 公开 | 公开 |