曝光检测方法、装置、计算机设备和存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411616685.2

申请日：

2024-11-13

公开(公告)号：

CN119357004A

公开(公告)日：

2025-01-24

发明(设计)人：

刘艳

申请人：

上海数禾信息科技有限公司

申请人地址：

201206 上海市浦东新区自由贸易试验区金科路2889弄1号2层201室

IPC主分类号：

G06F11/34

IPC分类号：

G06F9/451 G06F3/0484

代理机构：

北京市万慧达律师事务所 11111

代理人：

刘艳丽;薛丹珍

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

上海市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-02-18	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/34申请日:20241113
2025-01-24	公开	公开

共 50 条

[1]

曝光环境检测方法、装置、系统、计算机设备和存储介质 [P].

侯力华 .

中国专利 :CN117950272A ,2024-04-30

[2]

检测方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN113835990B ,2024-01-30

[3]

检测方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN113835990A ,2021-12-24

[4]

检测方法、检测装置、计算机设备和计算机可读存储介质 [P].

吴安平 .

中国专利 :CN108198175A ,2018-06-22

[5]

曝光方法、装置、计算机设备、存储介质 [P].

李钊颖 .

中国专利 :CN118915402A ,2024-11-08

[6]

应用检测方法、装置、计算机存储介质和计算机设备 [P].

蔡灿 .

中国专利 :CN109190373A ,2019-01-11

[7]

设备检测方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

谢益帆 ;

曹生辉 ;

李强 ;

李阳 ;

付强 ;

张世洪 .

中国专利 :CN117451336A ,2024-01-26

[8]

设备检测方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

韩东超 ;

薛选峰 ;

张丽波 ;

聂泽宇 ;

乔宇 .

中国专利 :CN114490716A ,2022-05-13

[9]

曝光调整方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

黄磊杰 .

中国专利 :CN109510948A ,2019-03-22

[10]

对象检测方法、装置、计算机可读存储介质和计算机设备 [P].

李峰 ;

邱日明 ;

赵世杰 ;

易阳 ;

左小祥 .

中国专利 :CN110175975A ,2019-08-27

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