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基于波长调制的光谱共焦位移测量系统及测量方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202411903660.0
申请日
:
2024-12-23
公开(公告)号
:
CN119354064A
公开(公告)日
:
2025-01-24
发明(设计)人
:
王之一
冯晓鹏
王建立
刘昌华
贾建禄
申请人
:
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请人地址
:
130033 吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号
IPC主分类号
:
G01B11/02
IPC分类号
:
G01B11/14
代理机构
:
长春中科长光知识产权代理事务所(普通合伙) 22218
代理人
:
高一明
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
北京市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-02-18
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01B 11/02申请日:20241223
2025-01-24
公开
公开
2025-03-18
授权
授权
共 50 条
[1]
基于波长调制的光谱共焦位移测量系统及测量方法
[P].
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机构:
王之一
;
冯晓鹏
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中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
冯晓鹏
;
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王建立
;
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机构:
刘昌华
;
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机构:
贾建禄
.
中国专利
:CN119354064B
,2025-03-18
[2]
基于外差干涉的光谱共焦位移测量系统及其测量方法
[P].
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王之一
;
冯晓鹏
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中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
冯晓鹏
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王建立
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糜小涛
;
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机构:
李烁
.
中国专利
:CN119394192B
,2025-03-07
[3]
基于外差干涉的光谱共焦位移测量系统及其测量方法
[P].
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王之一
;
冯晓鹏
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中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
冯晓鹏
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李烁
.
中国专利
:CN119394192A
,2025-02-07
[4]
基于波长扫描的光谱共焦位移测量方法及装置
[P].
段发阶
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段发阶
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傅骁
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黄婷婷
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马凌
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马凌
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张聪
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张聪
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程沁蕊
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程沁蕊
.
中国专利
:CN109163662A
,2019-01-08
[5]
基于微球辅助的差动干涉共焦位移测量系统及测量方法
[P].
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王之一
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冯晓鹏
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中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
冯晓鹏
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高胜英
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江思博
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中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
江思博
;
周敬萱
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中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
周敬萱
.
中国专利
:CN119289850B
,2025-03-18
[6]
基于微球辅助的差动干涉共焦位移测量系统及测量方法
[P].
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王之一
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机构:
王建立
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冯晓鹏
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中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
冯晓鹏
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李烁
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糜小涛
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高胜英
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江思博
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中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
江思博
;
周敬萱
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中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
周敬萱
.
中国专利
:CN119289850A
,2025-01-10
[7]
基于波长扫描的光谱共焦位移测量装置
[P].
段发阶
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段发阶
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傅骁
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傅骁
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黄婷婷
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黄婷婷
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马凌
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张聪
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程沁蕊
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程沁蕊
.
中国专利
:CN208721004U
,2019-04-09
[8]
基于波长调制光谱技术的气体浓度测量系统
[P].
彭晶晶
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彭晶晶
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杨洪涛
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杨洪涛
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曹亚南
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曹亚南
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中国专利
:CN114166797A
,2022-03-11
[9]
基于波长调制光谱技术的真空环境下温度测量方法
[P].
丁艳军
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丁艳军
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彭志敏
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彭志敏
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周佩丽
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周佩丽
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中国专利
:CN103308186A
,2013-09-18
[10]
一种波长调制光谱技术中激光相对波长的测量方法
[P].
杜艳君
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杜艳君
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彭志敏
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丁艳军
.
中国专利
:CN111024651B
,2020-04-17
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