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一种双光路Z扫描非线性光学测量装置及方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202411430716.5
申请日
:
2024-10-14
公开(公告)号
:
CN119394960A
公开(公告)日
:
2025-02-07
发明(设计)人
:
王洪震
徐李海良
刘泽续
蔡清华
闫欣雨
万园
李志昊
王文志
高立明
申请人
:
山东师范大学
申请人地址
:
250014 山东省济南市历下区文化东路88号
IPC主分类号
:
G01N21/39
IPC分类号
:
G02B27/14
G01N21/01
G01N21/41
代理机构
:
济南圣达知识产权代理有限公司 37221
代理人
:
董雪
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
山东省 济南市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-02-25
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/39申请日:20241014
2025-02-07
公开
公开
共 50 条
[1]
一种测量非线性光学系数的z扫描测量装置及测量方法
[P].
韩克利
论文数:
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机构:
山东大学
山东大学
韩克利
;
宋李莹
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机构:
山东大学
山东大学
宋李莹
;
论文数:
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机构:
李紫荆
;
论文数:
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机构:
李晓晓
;
论文数:
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机构:
金兵
.
中国专利
:CN114486739B
,2024-06-11
[2]
一种测量非线性光学系数的z扫描测量装置及测量方法
[P].
韩克利
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韩克利
;
宋李莹
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宋李莹
;
李紫荆
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李紫荆
;
李晓晓
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李晓晓
;
金兵
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金兵
.
中国专利
:CN114486739A
,2022-05-13
[3]
一种改进的Z扫描非线性测量的实验装置及方法
[P].
马红
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马红
;
焦扬
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焦扬
;
赵丽娜
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赵丽娜
;
刘玫
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刘玫
;
高垣梅
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高垣梅
.
中国专利
:CN104931424A
,2015-09-23
[4]
Z扫描光学非线性测量装置和测量方法
[P].
蔡晓林
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蔡晓林
;
魏劲松
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魏劲松
.
中国专利
:CN102937573A
,2013-02-20
[5]
一种测量非线性光学系数的z扫描测量装置及测量方法
[P].
刘新风
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刘新风
;
眭新雨
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眭新雨
;
姜传秀
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姜传秀
;
杜文娜
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杜文娜
.
中国专利
:CN112903596A
,2021-06-04
[6]
非线性厚光子学材料的光学非线性测量装置及测量方法
[P].
张霖
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张霖
;
任寰
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任寰
;
杨一
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杨一
;
马骅
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马骅
;
陈波
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陈波
;
石振东
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石振东
;
李东
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李东
;
刘勇
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刘勇
;
原泉
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原泉
;
杨晓瑜
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杨晓瑜
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柴立群
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柴立群
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刘旭
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刘旭
;
巴荣生
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巴荣生
;
郑垠波
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郑垠波
;
周信达
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周信达
.
中国专利
:CN105092477A
,2015-11-25
[7]
双束多功能z扫描光学非线性测量装置和方法
[P].
马晓晴
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马晓晴
;
魏劲松
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魏劲松
.
中国专利
:CN101806723B
,2010-08-18
[8]
一种非线性Z扫描测量方法及装置
[P].
张秋慧
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张秋慧
;
武兴会
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武兴会
;
朱彤珺
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朱彤珺
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付国定
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付国定
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周洪
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周洪
;
栗晨
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栗晨
;
姚成
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姚成
.
中国专利
:CN111024676B
,2020-04-17
[9]
一种用于非线性特性测量的测量装置及方法
[P].
论文数:
引用数:
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机构:
邓国亮
;
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机构:
李悦
;
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机构:
周昊
;
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机构:
张弘
;
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机构:
杨火木
;
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机构:
王树同
;
论文数:
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机构:
周寿桓
.
中国专利
:CN118483191A
,2024-08-13
[10]
一种基于双光路干涉的非线性折射率测量系统、方法
[P].
李垒
论文数:
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机构:
中国地质大学(武汉)
中国地质大学(武汉)
李垒
;
论文数:
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机构:
张保成
;
论文数:
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机构:
陈玲
.
中国专利
:CN120352383A
,2025-07-22
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