电连接组件以及老化测试系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411421651.8

申请日：

2024-10-10

公开(公告)号：

CN119447922A

公开(公告)日：

2025-02-14

发明(设计)人：

曾泉苏鹏何海平刘建辉周德祥

申请人：

天芯互联科技有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市龙岗区坪地街道坪西社区富岭路1号5栋

IPC主分类号：

H01R24/00

IPC分类号：

H01R13/62 H01R13/42 H01R27/00 G01R31/69

代理机构：

深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280

代理人：

黎坚怡

法律状态：

公开

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-02-14	公开	公开
2025-03-04	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):H01R 24/00申请日:20241010

共 50 条

[1]

系统板、老化测试系统以及老化测试设备 [P].

曾泉 ;

何海平 ;

苏鹏 .

中国专利 :CN117388671A ,2024-01-12

[2]

老化测试电路、老化测试装置以及老化测试系统 [P].

李坤 ;

徐勋明 ;

夏建平 ;

李小明 ;

余义江 .

中国专利 :CN216350966U ,2022-04-19

[3]

高温电老化测试系统 [P].

姜军 ;

周桃 .

中国专利 :CN222850708U ,2025-05-09

[4]

电力连接器组件和显示屏的老化测试系统 [P].

王小凯 ;

段永华 .

中国专利 :CN118693568B ,2024-12-27

[5]

电力连接器组件和显示屏的老化测试系统 [P].

王小凯 ;

段永华 .

中国专利 :CN118693568A ,2024-09-24

[6]

电子产品老化测试系统以及老化测试方法 [P].

姜良华 ;

王之磊 ;

黄桅 .

中国专利 :CN104007340A ,2014-08-27

[7]

保压老化测试系统以及测试方法 [P].

周志曼 ;

张康 ;

李婷 ;

刘福强 ;

刘欢 ;

董建强 .

中国专利 :CN119742243A ,2025-04-01

[8]

BTM老化测试系统 [P].

王舒民 ;

王耀辉 ;

刘铁托 .

中国专利 :CN108574542A ,2018-09-25

[9]

绝缘材料电老化测试系统 [P].

伍国兴 ;

谢宏 ;

陈潇 ;

徐曙 ;

黎小林 ;

傅明利 ;

侯帅 ;

朱闻博 ;

惠宝军 ;

冯宾 ;

张逸凡 .

中国专利 :CN112578236A ,2021-03-30

[10]

老化测试电路、老化测试系统及老化测试方法 [P].

郝懿 .

中国专利 :CN114660379A ,2022-06-24

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