一种新型的高频信号测试结构

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110019763.0

申请日：

2021-01-07

公开(公告)号：

CN114740328B

公开(公告)日：

2025-02-11

发明(设计)人：

刘健陈莉穆雪峰邓白玉刘涛周水源

申请人：

湖南迈克森伟电子科技有限公司

申请人地址：

410205 湖南省长沙市长沙高新开发区麓天路12号408室

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R1/04

代理机构：

代理人：

法律状态：

授权

国省代码：

河北省石家庄市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-02-11	授权	授权

共 50 条

[1]

一种新型的高频信号测试结构 [P].

刘健 ;

陈莉 ;

穆雪峰 ;

邓白玉 ;

刘涛 ;

周水源 .

中国专利 :CN114740328A ,2022-07-12

[2]

高频信号测试装置 [P].

马壮 .

中国专利 :CN202649403U ,2013-01-02

[3]

一种低带宽测试设备的高频信号测试方法 [P].

徐润生 ;

王震东 ;

吴艳平 .

中国专利 :CN120870824A ,2025-10-31

[4]

一种射频芯片高频信号测试探针台 [P].

林娟贤 ;

洪吉宏 .

中国专利 :CN121114731A ,2025-12-12

[5]

用于以高频信号测试装置的设备 [P].

伊东良真 .

中国专利 :CN100476442C ,2006-12-27

[6]

射频信号测试连接结构及射频信号测试优化方法 [P].

曹生法 ;

王浩 .

中国专利 :CN102013930A ,2011-04-13

[7]

一种射频信号测试方法 [P].

张东 ;

高剑 ;

李杰 ;

于明 ;

蒋常斌 .

中国专利 :CN104635067A ,2015-05-20

[8]

一种适用于半导体封装射频高频信号测试用夹治具 [P].

何均 .

中国专利 :CN215641661U ,2022-01-25

[9]

一种适用于半导体封装射频高频信号测试用夹治具 [P].

何均 .

中国专利 :CN113484727A ,2021-10-08

[10]

一种射频信号测试治具 [P].

王卫杰 ;

牛宝星 .

中国专利 :CN215734296U ,2022-02-01

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