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一种低带宽测试设备的高频信号测试方法

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202511137309.X
申请日：
2025-08-14
公开(公告)号：
CN120870824A
公开(公告)日：
2025-10-31
发明(设计)人：
徐润生 王震东 吴艳平
申请人：
胜达克半导体科技（上海）股份有限公司
申请人地址：
201799 上海市青浦区华浦路480号1幢1层103室
IPC主分类号：
G01R31/28
IPC分类号：
G01R31/26
代理机构：
苏州市中南伟业知识产权代理事务所(普通合伙) 32257
代理人：
白晨聪
法律状态：
公开
国省代码：
上海市 市辖区
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-10-31 公开 公开
2025-11-18 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20250814
共 50 条
[1]
用于以高频信号测试装置的设备 [P]. 
伊东良真 .
中国专利 :CN100476442C ,2006-12-27
[2]
高频信号测试装置 [P]. 
马壮 .
中国专利 :CN202649403U ,2013-01-02
[3]
一种新型的高频信号测试结构 [P]. 
刘健 ;
陈莉 ;
穆雪峰 ;
邓白玉 ;
刘涛 ;
周水源 .
中国专利 :CN114740328B ,2025-02-11
[4]
一种新型的高频信号测试结构 [P]. 
刘健 ;
陈莉 ;
穆雪峰 ;
邓白玉 ;
刘涛 ;
周水源 .
中国专利 :CN114740328A ,2022-07-12
[5]
一种射频芯片高频信号测试探针台 [P]. 
林娟贤 ;
洪吉宏 .
中国专利 :CN121114731A ,2025-12-12
[6]
高速串行信号测试方法、系统及半导体测试设备 [P]. 
许应 ;
刘星 ;
戴蒙 .
中国专利 :CN120498612B ,2025-11-21
[7]
高速串行信号测试方法、系统及半导体测试设备 [P]. 
许应 ;
刘星 ;
戴蒙 .
中国专利 :CN120498612A ,2025-08-15
[8]
一种信号测试设备和信号测试方法 [P]. 
强德厚 ;
洛桑江才 ;
黄丹宁 ;
苏雪燕 ;
杨虎 ;
方威 .
中国专利 :CN113315865A ,2021-08-27
[9]
一种信号测试设备 [P]. 
杨志宏 ;
李光 ;
杨洁 .
中国专利 :CN220673772U ,2024-03-26
[10]
一种机载音频信号转换测试设备 [P]. 
雒嘉 ;
李能尧 ;
施建明 ;
孙研 ;
宋攀攀 .
中国专利 :CN118945580A ,2024-11-12
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