时间测量电路及时间测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411371323.1

申请日：

2024-09-29

公开(公告)号：

CN119324704A

公开(公告)日：

2025-01-17

发明(设计)人：

赵伟超杨兴颖姚国生

申请人：

北京华峰测控技术股份有限公司

申请人地址：

100094 北京市海淀区丰豪东路9号院5号楼1至5层101、102、103

IPC主分类号：

H03K21/00

IPC分类号：

G04F10/00 H03K5/14

代理机构：

北京品源专利代理有限公司 11332

代理人：

苏舒音

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-02-11	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):H03K 21/00申请日:20240929
2025-01-17	公开	公开

共 50 条

[1]

一种时间测量电路及时间测量方法 [P].

赵伟超 ;

杨兴颖 ;

姚国生 .

中国专利 :CN119363098A ,2025-01-24

[2]

时间测量系统及时间测量方法 [P].

王培林 ;

魏书军 ;

李道武 ;

帅磊 ;

丰宝桐 ;

胡婷婷 ;

孙芸华 ;

魏龙 .

中国专利 :CN102736511A ,2012-10-17

[3]

时间测量装置、荧光寿命测量装置及时间测量方法 [P].

新仓史智 .

日本专利 :CN115735115B ,2025-04-08

[4]

时间测量电路、时间测量芯片及时间测量装置 [P].

王鸿儒 .

中国专利 :CN112824983B ,2021-05-21

[5]

时间测量电路、时间测量方法、时间测量芯片、时间测量模组和电子设备 [P].

王方波 .

中国专利 :CN114779607A ,2022-07-22

[6]

一种访问时间测量电路和访问时间测量方法 [P].

仇超文 .

中国专利 :CN107705818B ,2018-02-16

[7]

延迟时间测量电路、延迟时间测量方法 [P].

曹云 ;

于明 .

中国专利 :CN102520338A ,2012-06-27

[8]

时间测量装置和时间测量方法 [P].

盛廷义 .

中国专利 :CN115981128B ,2025-07-22

[9]

时间测量装置、微型控制器、程序以及时间测量方法 [P].

安田晃辅 .

中国专利 :CN103135661A ,2013-06-05

[10]

时间参数的测量方法、时间参数测量电路及系统 [P].

朱灿 ;

郎晨晨 ;

师宇飞 ;

陈清凤 ;

于洪涛 .

中国专利 :CN114113981A ,2022-03-01

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