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时间测量装置、荧光寿命测量装置及时间测量方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202180046534.6
申请日
:
2021-05-13
公开(公告)号
:
CN115735115B
公开(公告)日
:
2025-04-08
发明(设计)人
:
新仓史智
申请人
:
浜松光子学株式会社
申请人地址
:
日本静冈县
IPC主分类号
:
G01N21/64
IPC分类号
:
G04F10/00
代理机构
:
北京尚诚知识产权代理有限公司 11322
代理人
:
杨琦;梁策
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-04-08
授权
授权
共 50 条
[1]
时间测量装置、时间测量方法、发光寿命测量装置及发光寿命测量方法
[P].
北泽健
论文数:
0
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北泽健
;
西泽充哲
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西泽充哲
;
伊东孝
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伊东孝
.
中国专利
:CN106716266A
,2017-05-24
[2]
时间测量电路及时间测量方法
[P].
赵伟超
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机构:
北京华峰测控技术股份有限公司
北京华峰测控技术股份有限公司
赵伟超
;
杨兴颖
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机构:
北京华峰测控技术股份有限公司
北京华峰测控技术股份有限公司
杨兴颖
;
姚国生
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0
机构:
北京华峰测控技术股份有限公司
北京华峰测控技术股份有限公司
姚国生
.
中国专利
:CN119324704A
,2025-01-17
[3]
时间测量系统及时间测量方法
[P].
王培林
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王培林
;
魏书军
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魏书军
;
李道武
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李道武
;
帅磊
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帅磊
;
丰宝桐
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丰宝桐
;
胡婷婷
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胡婷婷
;
孙芸华
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孙芸华
;
魏龙
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0
魏龙
.
中国专利
:CN102736511A
,2012-10-17
[4]
时间测量装置和时间测量方法
[P].
盛廷义
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机构:
杭州脑芯科技有限公司
杭州脑芯科技有限公司
盛廷义
.
中国专利
:CN115981128B
,2025-07-22
[5]
时间测量装置、时间测量方法和距离测量装置
[P].
阿部敬之
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阿部敬之
;
斋藤雅史
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斋藤雅史
;
园田高大
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园田高大
.
中国专利
:CN115004557A
,2022-09-02
[6]
时间测量电路、时间测量芯片及时间测量装置
[P].
王鸿儒
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王鸿儒
.
中国专利
:CN112824983B
,2021-05-21
[7]
时间测量装置、微型控制器、程序以及时间测量方法
[P].
安田晃辅
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安田晃辅
.
中国专利
:CN103135661A
,2013-06-05
[8]
一种时间测量电路及时间测量方法
[P].
赵伟超
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机构:
北京华峰测控技术股份有限公司
北京华峰测控技术股份有限公司
赵伟超
;
杨兴颖
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机构:
北京华峰测控技术股份有限公司
北京华峰测控技术股份有限公司
杨兴颖
;
姚国生
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机构:
北京华峰测控技术股份有限公司
北京华峰测控技术股份有限公司
姚国生
.
中国专利
:CN119363098A
,2025-01-24
[9]
飞行时间测量方法、装置及时间飞行深度相机
[P].
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机构:
马宣
;
王兆民
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机构:
奥比中光科技集团股份有限公司
奥比中光科技集团股份有限公司
王兆民
;
周兴
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机构:
奥比中光科技集团股份有限公司
奥比中光科技集团股份有限公司
周兴
;
论文数:
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机构:
黄源浩
;
肖振中
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机构:
奥比中光科技集团股份有限公司
奥比中光科技集团股份有限公司
肖振中
.
中国专利
:CN115079188B
,2025-10-17
[10]
飞行时间测量方法、装置及时间飞行深度相机
[P].
马宣
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马宣
;
王兆民
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王兆民
;
周兴
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周兴
;
黄源浩
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黄源浩
;
肖振中
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肖振中
.
中国专利
:CN115079189A
,2022-09-20
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