一种壁厚均匀度测量装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202411886188.4
申请日
2024-12-20
公开(公告)号
CN119334233A
公开(公告)日
2025-01-21
发明(设计)人
杨洁 张伟 朱亚 周蜀东 王鋆 俞成 文雍梅 王洪翠
申请人
中国科学院上海高等研究院
申请人地址
201210 上海市浦东新区张江高科技园区海科路99号
IPC主分类号
G01B7/04
IPC分类号
代理机构
上海智信专利代理有限公司 31002
代理人
杨怡清
法律状态
实质审查的生效
国省代码
北京市
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共 50 条
[1]
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