一种冰晶场均匀度测量装置及测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202511250285.9

申请日：

2025-09-03

公开(公告)号：

CN120927501A

公开(公告)日：

2025-11-11

发明(设计)人：

张悦刘海丰王云祥任兆琨秦望舒马占元

申请人：

中国航空工业集团公司哈尔滨空气动力研究所

申请人地址：

150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区一曼街2号

IPC主分类号：

G01N5/00

IPC分类号：

G01B21/02 G01B21/28

代理机构：

哈尔滨市伟晨专利代理事务所(普通合伙) 23209

代理人：

荣玲

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-11-11	公开	公开
2025-11-28	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 5/00申请日:20250903

共 50 条

[1]

一种风洞风场均匀度的测量方法 [P].

李恒真 ;

刘刚 ;

洪良 ;

龙志 ;

王泽信 ;

陈冠宇 ;

郭思华 ;

郭昌军 ;

王颖凯 ;

卢俊杰 .

中国专利 :CN102706532B ,2012-10-03

[2]

光辐射场均匀性测量装置及测量方法 [P].

冯国进 .

中国专利 :CN103278242A ,2013-09-04

[3]

SCR后处理流场不均匀度的测量方法和测量装置 [P].

周海磊 ;

殷海红 ;

马雁 ;

韩峰 ;

王意宝 ;

贾德民 .

中国专利 :CN111122785A ,2020-05-08

[4]

一种固液混合均匀度测试系统及均匀度测量方法 [P].

冯宗蕊 ;

胡成 ;

张宪忠 ;

柯鑫 ;

包志明 ;

李毅 ;

郝天姿 .

中国专利 :CN118329678A ,2024-07-12

[5]

准直光束平行度及均匀度的测量系统及测量方法 [P].

唐延甫 ;

韩冰 ;

李洪雨 ;

李俊霖 ;

李忠明 ;

杨永强 .

中国专利 :CN111487042A ,2020-08-04

[6]

一种照度均匀度测量装置及测量系统 [P].

游庆虎 ;

段晓东 .

中国专利 :CN212646044U ,2021-03-02

[7]

岩石表面非均匀波速场测量装置及其测量方法 [P].

王兆丰 ;

潘鹏志 ;

张文海 .

中国专利 :CN115685324A ,2023-02-03

[8]

一种壁厚均匀度测量装置 [P].

杨洁 ;

张伟 ;

朱亚 ;

周蜀东 ;

王鋆 ;

俞成 ;

文雍梅 ;

王洪翠 .

中国专利 :CN119334233A ,2025-01-21

[9]

一种法兰平面度测量方法及测量装置 [P].

雍君 ;

曾拥银 ;

刘宏波 .

中国专利 :CN114001679B ,2025-02-11

[10]

一种不圆度测量装置及测量方法 [P].

荆树春 ;

张长东 ;

刘金秋 ;

李鹏刚 ;

马振华 ;

张平 ;

曹品彪 ;

梁亚飞 .

中国专利 :CN113776483A ,2021-12-10

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