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功率器件动态阈值电压的测试电路及测试方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202310927517.4
申请日
:
2023-07-26
公开(公告)号
:
CN119375646A
公开(公告)日
:
2025-01-28
发明(设计)人
:
邱金朋
沈竞宇
申请人
:
华润微电子(重庆)有限公司
申请人地址
:
401331 重庆市沙坪坝区西永大道25号
IPC主分类号
:
G01R31/26
IPC分类号
:
G01R1/20
代理机构
:
上海光华专利事务所(普通合伙) 31219
代理人
:
林丽丽
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
重庆市 市辖区
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-02-21
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/26申请日:20230726
2025-01-28
公开
公开
共 50 条
[1]
一种功率器件的阈值电压测试电路系统和测试方法
[P].
李理
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
珠海格力电子元器件有限公司
珠海格力电子元器件有限公司
李理
;
姬伟超
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
珠海格力电子元器件有限公司
珠海格力电子元器件有限公司
姬伟超
;
容建峰
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
珠海格力电子元器件有限公司
珠海格力电子元器件有限公司
容建峰
;
毛燕
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
珠海格力电子元器件有限公司
珠海格力电子元器件有限公司
毛燕
.
中国专利
:CN118937942A
,2024-11-12
[2]
一种阈值电压为负的开关器件的阈值电压测试方法及系统
[P].
周福斌
论文数:
0
引用数:
0
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0
周福斌
;
任永硕
论文数:
0
引用数:
0
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0
任永硕
;
王荣华
论文数:
0
引用数:
0
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0
王荣华
;
梁辉南
论文数:
0
引用数:
0
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0
梁辉南
.
中国专利
:CN113702824A
,2021-11-26
[3]
一种阈值电压为负的开关器件的阈值电压测试方法及系统
[P].
周福斌
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
润新微电子(大连)有限公司
润新微电子(大连)有限公司
周福斌
;
任永硕
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
润新微电子(大连)有限公司
润新微电子(大连)有限公司
任永硕
;
王荣华
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
润新微电子(大连)有限公司
润新微电子(大连)有限公司
王荣华
;
梁辉南
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
润新微电子(大连)有限公司
润新微电子(大连)有限公司
梁辉南
.
中国专利
:CN113702824B
,2024-04-12
[4]
功率器件的测试电路及测试方法
[P].
邱金朋
论文数:
0
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0
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0
机构:
华润微电子(重庆)有限公司
华润微电子(重庆)有限公司
邱金朋
;
沈竞宇
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
华润微电子(重庆)有限公司
华润微电子(重庆)有限公司
沈竞宇
.
中国专利
:CN119375647A
,2025-01-28
[5]
适于开关时间测试和阈值电压测试的测试电路及测试方法
[P].
何嘉辉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
何嘉辉
.
中国专利
:CN115684864A
,2023-02-03
[6]
一种动态阈值电压测试装置及测试方法
[P].
邓艳红
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
青岛聚能创芯微电子有限公司
青岛聚能创芯微电子有限公司
邓艳红
;
李成
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
青岛聚能创芯微电子有限公司
青岛聚能创芯微电子有限公司
李成
.
中国专利
:CN118566684A
,2024-08-30
[7]
阈值电压测试方法及阈值电压测试系统和可读存储介质
[P].
陈洋洋
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
芯恩(青岛)集成电路有限公司
芯恩(青岛)集成电路有限公司
陈洋洋
;
孙丹萍
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
芯恩(青岛)集成电路有限公司
芯恩(青岛)集成电路有限公司
孙丹萍
.
中国专利
:CN121008156A
,2025-11-25
[8]
阈值电压测试电路、测试芯片、测试方法和可读存储介质
[P].
王同营
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
杭州广立微电子股份有限公司
杭州广立微电子股份有限公司
王同营
;
于天祺
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
杭州广立微电子股份有限公司
杭州广立微电子股份有限公司
于天祺
.
中国专利
:CN120148599A
,2025-06-13
[9]
功率器件的测试电路和测试方法
[P].
张海涛
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
华峰测控技术(天津)有限责任公司
华峰测控技术(天津)有限责任公司
张海涛
;
陈宏亮
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
华峰测控技术(天津)有限责任公司
华峰测控技术(天津)有限责任公司
陈宏亮
;
刘惠鹏
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
华峰测控技术(天津)有限责任公司
华峰测控技术(天津)有限责任公司
刘惠鹏
;
闫肃
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
华峰测控技术(天津)有限责任公司
华峰测控技术(天津)有限责任公司
闫肃
;
樊晨
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
华峰测控技术(天津)有限责任公司
华峰测控技术(天津)有限责任公司
樊晨
.
中国专利
:CN119575114A
,2025-03-07
[10]
功率器件动态电阻的测试电路及测试方法
[P].
李凯
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
上海新微半导体有限公司
上海新微半导体有限公司
李凯
;
雷嘉成
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
上海新微半导体有限公司
上海新微半导体有限公司
雷嘉成
.
中国专利
:CN119247090A
,2025-01-03
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