阈值电压测试电路、测试芯片、测试方法和可读存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202510631171.2
申请日
2025-05-16
公开(公告)号
CN120148599A
公开(公告)日
2025-06-13
发明(设计)人
王同营 于天祺
申请人
杭州广立微电子股份有限公司
申请人地址
310012 浙江省杭州市西湖区西斗门路3号天堂软件园A幢15楼F1座
IPC主分类号
G11C29/50
IPC分类号
代理机构
苏州石金知识产权代理事务所(普通合伙) 32844
代理人
张璐豪
法律状态
实质审查的生效
国省代码
浙江省 杭州市
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共 50 条
[1]
阈值电压测试方法及阈值电压测试系统和可读存储介质 [P]. 
陈洋洋 ;
孙丹萍 .
中国专利 :CN121008156A ,2025-11-25
[2]
适于开关时间测试和阈值电压测试的测试电路及测试方法 [P]. 
何嘉辉 .
中国专利 :CN115684864A ,2023-02-03
[3]
功率器件动态阈值电压的测试电路及测试方法 [P]. 
邱金朋 ;
沈竞宇 .
中国专利 :CN119375646A ,2025-01-28
[4]
一种IGBT阈值电压测试电路 [P]. 
黎莎 ;
喻贵忠 .
中国专利 :CN211826331U ,2020-10-30
[5]
一种IGBT阈值电压测试电路 [P]. 
黎莎 ;
喻贵忠 .
中国专利 :CN111142004A ,2020-05-12
[6]
阈值电压产生电路、测试机及充电保护芯片测试装置 [P]. 
张恭铭 ;
邴春秋 ;
王士江 .
中国专利 :CN112947654B ,2021-06-11
[7]
一种功率器件的阈值电压测试电路系统和测试方法 [P]. 
李理 ;
姬伟超 ;
容建峰 ;
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中国专利 :CN118937942A ,2024-11-12
[8]
存储器目标阈值电压的测试方法和测试装置 [P]. 
王雄 ;
刘峻 ;
杨海波 ;
付志成 ;
程阳 .
中国专利 :CN118398065A ,2024-07-26
[9]
一种MOS管阈值电压测试电路 [P]. 
蒋仁杰 .
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[10]
测试方法、测试电路、装置以及可读存储介质 [P]. 
徐迪恺 ;
汪猛 .
中国专利 :CN119229910B ,2025-10-03