测试方法、测试电路、装置以及可读存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202310756396.1

申请日：

2023-06-21

公开(公告)号：

CN119229910B

公开(公告)日：

2025-10-03

发明(设计)人：

徐迪恺汪猛

申请人：

长鑫存储技术有限公司

申请人地址：

230601 安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号

IPC主分类号：

G11C7/10

IPC分类号：

G11C8/12 G11C29/02

代理机构：

代理人：

法律状态：

公开

国省代码：

安徽省宣城市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-12-31	公开	公开
2025-01-17	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G11C 7/10申请日:20230621
2025-10-03	授权	授权

共 50 条

[1]

测试方法、测试电路、装置以及可读存储介质 [P].

徐迪恺 ;

汪猛 .

中国专利 :CN119229910A ,2024-12-31

[2]

ADC芯片测试电路、方法、测试设备以及存储介质 [P].

苗书立 ;

李文标 ;

刘凯 .

中国专利 :CN114257244B ,2025-06-20

[3]

ADC芯片测试电路、方法、测试设备以及存储介质 [P].

苗书立 ;

李文标 ;

刘凯 .

中国专利 :CN114257244A ,2022-03-29

[4]

阈值电压测试电路、测试芯片、测试方法和可读存储介质 [P].

王同营 ;

于天祺 .

中国专利 :CN120148599A ,2025-06-13

[5]

测试电路、测试方法、测试系统及存储介质 [P].

李翔 ;

时洁 .

中国专利 :CN119335346A ,2025-01-21

[6]

测试方法、测试装置、电子装置以及存储介质 [P].

涂维政 ;

齐睿 ;

彭真 ;

田维付 .

中国专利 :CN119132378A ,2024-12-13

[7]

掉电保护电路的测试方法、设备以及可读存储介质 [P].

杨继光 .

中国专利 :CN118033364A ,2024-05-14

[8]

测试方法、装置、系统及可读存储介质 [P].

王攀 .

中国专利 :CN118010368A ,2024-05-10

[9]

测试方法、装置、测试设备和可读存储介质 [P].

赵旸 ;

左永强 ;

朴顺福 ;

刘旭峰 ;

史江通 ;

陈波 .

中国专利 :CN121093492A ,2025-12-09

[10]

测试方法、测试装置及可读存储介质 [P].

马伟哲 ;

罗金阁 ;

肖俊阳 ;

马彬 ;

袁国权 ;

吴新 ;

曾通 ;

林杰 ;

程武平 ;

弓国军 ;

蔡泽瀚 .

中国专利 :CN117991022A ,2024-05-07

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