IPC分类号:
H02J7/00
G01R19/00
代理机构:
北京铭硕知识产权代理有限公司 11286
共 50 条
[1]
测定装置、测定系统以及测定方法
[P].
长井秀行
论文数: 0 引用数: 0
h-index: 0
机构:
日置电机株式会社
日置电机株式会社
长井秀行
.
日本专利 :CN118103715A ,2024-05-28 [2]
测定方法、测定装置以及测定系统
[P].
村上健二
论文数: 0 引用数: 0
h-index: 0
机构:
横河电机株式会社
横河电机株式会社
村上健二
;
伊藤直树
论文数: 0 引用数: 0
h-index: 0
机构:
横河电机株式会社
横河电机株式会社
伊藤直树
.
日本专利 :CN118818148A ,2024-10-22 [3]
测定装置以及测定系统
[P].
中国专利 :CN113331786A ,2021-09-03 [4]
测定装置以及测定系统
[P].
绪方大树
论文数: 0 引用数: 0
h-index: 0
机构:
株式会社村田制作所
株式会社村田制作所
绪方大树
;
仓持美惠
论文数: 0 引用数: 0
h-index: 0
机构:
株式会社村田制作所
株式会社村田制作所
仓持美惠
.
日本专利 :CN113331786B ,2025-02-25 [5]
测定装置以及测定系统
[P].
中国专利 :CN115334958A ,2022-11-11 [6]
测定装置以及测定系统
[P].
中国专利 :CN110596206A ,2019-12-20 [7]
测定装置以及测定系统
[P].
中国专利 :CN103356200B ,2013-10-23 [8]
测定装置以及测定装置的测定方法
[P].
大野祥希
论文数: 0 引用数: 0
h-index: 0
机构:
株式会社东京精密
株式会社东京精密
大野祥希
.
日本专利 :CN119986675A ,2025-05-13 [9]
位置测定装置、位置测定系统以及测定装置
[P].
佐藤真路
论文数: 0 引用数: 0
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机构:
株式会社尼康
株式会社尼康
佐藤真路
.
日本专利 :CN117836588A ,2024-04-05