光学测量装置及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411514362.2

申请日：

2024-10-28

公开(公告)号：

CN119374865A

公开(公告)日：

2025-01-28

发明(设计)人：

赵连军韩欣欣李致廷李德俊边宗丽

申请人：

歌尔股份有限公司

申请人地址：

261031 山东省潍坊市高新技术产业开发区东方路268号

IPC主分类号：

G01M11/02

IPC分类号：

代理机构：

深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287

代理人：

薛福玲

法律状态：

公开

国省代码：

河北省保定市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-01-28	公开	公开
2025-02-21	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01M 11/02申请日:20241028

共 50 条

[1]

光学参数测量装置、系统及方法 [P].

冯蓬勃 ;

韩欣欣 ;

赵连军 ;

李致廷 ;

李德俊 ;

边宗丽 .

中国专利 :CN119374864A ,2025-01-28

[2]

光学测量装置及光学测量方法 [P].

高堉墐 ;

刘朝辉 ;

郑伊凯 ;

王世昌 ;

王大祥 .

中国专利 :CN103792190B ,2014-05-14

[3]

光学测量装置及光学测量方法 [P].

田口都一 .

日本专利 :CN120558845A ,2025-08-29

[4]

光学测量装置及光学测量方法 [P].

田口都一 .

日本专利 :CN112710634B ,2025-06-24

[5]

光学测量装置及光学测量方法 [P].

井上展幸 ;

田口都一 .

中国专利 :CN109405752B ,2019-03-01

[6]

光学测量装置及光学测量方法 [P].

梶井阳介 ;

近藤智则 .

中国专利 :CN112639392B ,2021-04-09

[7]

光学测量方法及光学测量装置 [P].

松村淳一 ;

大久保宪治 .

中国专利 :CN1721841A ,2006-01-18

[8]

光学测量装置及光学测量方法 [P].

梶井阳介 ;

的场贤一 ;

近藤智则 .

中国专利 :CN110058249A ,2019-07-26

[9]

光学测量装置及光学测量方法 [P].

井上展幸 ;

田口都一 .

中国专利 :CN109163666A ,2019-01-08

[10]

光学测量方法及光学测量装置 [P].

K·克莱恩 ;

P·弗里兹 ;

A·安德森 .

中国专利 :CN112384751A ,2021-02-19

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