检测方法、检测设备及存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202310966756.0
申请日
2023-08-02
公开(公告)号
CN119438737A
公开(公告)日
2025-02-14
发明(设计)人
凌松 张林 杨振
申请人
北京小米移动软件有限公司
申请人地址
100085 北京市海淀区西二旗中路33号院6号楼8层018号
IPC主分类号
G01R31/00
IPC分类号
代理机构
北京善任知识产权代理有限公司 11650
代理人
王静;孟桂超
法律状态
公开
国省代码
北京市 市辖区
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共 50 条
[1]
检测方法及检测设备、存储介质 [P]. 
刘书文 .
中国专利 :CN113315741B ,2021-08-27
[2]
检测方法及检测设备、存储介质 [P]. 
王大伟 .
中国专利 :CN111800405A ,2020-10-20
[3]
检测方法、检测设备、检测装置及存储介质 [P]. 
陈鲁 ;
魏林鹏 ;
方一 ;
张嵩 .
中国专利 :CN112858337B ,2024-12-03
[4]
检测方法、检测设备、检测装置及存储介质 [P]. 
陈鲁 ;
魏林鹏 ;
方一 ;
张嵩 .
中国专利 :CN112858337A ,2021-05-28
[5]
检测方法、检测装置、检测设备及存储介质 [P]. 
张士超 .
中国专利 :CN118731672A ,2024-10-01
[6]
检测设备及检测方法、检测系统及存储介质 [P]. 
陈鲁 ;
王南朔 ;
王秋实 ;
卢继奎 ;
马砚忠 ;
张嵩 .
中国专利 :CN115561255B ,2025-07-15
[7]
检测设备及检测方法、检测系统及存储介质 [P]. 
陈鲁 ;
王紫媛 ;
李青格乐 ;
吕肃 ;
张嵩 .
中国专利 :CN113251929B ,2021-08-13
[8]
检测设备及检测方法、检测系统及存储介质 [P]. 
陈鲁 ;
王南朔 ;
王秋实 ;
卢继奎 ;
马砚忠 ;
张嵩 .
中国专利 :CN115561255A ,2023-01-03
[9]
检测设备、检测方法及装置、存储介质 [P]. 
高一川 ;
刘通 .
中国专利 :CN111736147B ,2024-03-01
[10]
瑕疵检测方法、检测设备及存储介质 [P]. 
毛蕊蕊 ;
杨彦利 ;
朱成波 ;
杨钊 ;
杨文静 .
中国专利 :CN120746926A ,2025-10-03