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一种MLCC端电极缺陷检测方法

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202411620266.6
申请日：
2024-11-14
公开(公告)号：
CN119559138A
公开(公告)日：
2025-03-04
发明(设计)人：
薛瑞斌 黄婷婷 周浩宇 唐加能 张美贵 严庆强 刘梦颖 郑成和 顾志伟
申请人：
福建火炬电子科技股份有限公司 上海火炬电子科技集团有限公司
申请人地址：
362000 福建省泉州市鲤城区高新技术产业园（江南园）紫华路4号
IPC主分类号：
G06T7/00
IPC分类号：
G06T5/50 G06N3/0464 G06N3/045 G06N3/08
代理机构：
泉州君典专利代理事务所(普通合伙) 35239
代理人：
宋艳梅
法律状态：
公开
国省代码：
上海市 市辖区
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-03-04 公开 公开
2025-03-21 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20241114
共 50 条
[1]
一种膜电极缺陷检测方法及装置 [P]. 
叶青 ;
胡晓 ;
宋洁 ;
许可 ;
郭志远 ;
徐桂芝 ;
邓占锋 ;
叶俊 ;
高运兴 .
中国专利 :CN111537532A ,2020-08-14
[2]
石墨电极缺损检测法及石墨电极缺损检测方法 [P]. 
乔宏哲 ;
陶国正 .
中国专利 :CN111259528B ,2024-02-02
[3]
薄膜电容电极缺陷检测方法、装置、设备及介质 [P]. 
洪金龙 ;
陈辉 .
中国专利 :CN119151920A ,2024-12-17
[4]
石墨电极缺损检测算法及石墨电极缺损检测方法 [P]. 
乔宏哲 ;
陶国正 .
中国专利 :CN111259528A ,2020-06-09
[5]
双闸极缺陷检测方法 [P]. 
陈守钧 .
中国专利 :CN120121632A ,2025-06-10
[6]
轻掺杂漏极缺陷检测方法 [P]. 
陈守钧 .
中国专利 :CN120127018A ,2025-06-10
[7]
一种电极缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
不公告发明人 .
中国专利 :CN114813914A ,2022-07-29
[8]
一种电极缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN114813914B ,2025-01-03
[9]
一种基于人工智能的电极缺陷检测方法及系统 [P]. 
袁园 ;
张邦 ;
张玉磊 .
中国专利 :CN113222895A ,2021-08-06
[10]
一种膜电极缺陷在线检测装置及检测方法 [P]. 
刘建国 ;
周扬 ;
李佳 .
中国专利 :CN114235818A ,2022-03-25
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